판매용 중고 ELECTROGLAS / EG 4090 #293606437
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ELECTROGLAS/EG 4090은 반도체 장치의 자동, 고속 및 고수율 조사를 위해 설계된 Prober 생산 테스트 솔루션입니다. 8 밀에서 1 밀리미터 피치까지 다양한 반도체 장치를 테스트할 수 있으며, 고밀도 MEMS 및 광학 요소도 지원합니다. 프로버에는 자동 X-Y-Z 단계가 있으며, 이를 통해 프로브와 테스트 중인 장치를 정확하게 정렬 할 수 있습니다. Z Slider 기반 Dual Arm Robotic Handler는 빠른 테스트 주기를 가능하게 하며 다양한 wafer 레벨 프로브 및 구성을 지원할 수 있습니다. 또한 고급 사용자 인터페이스 제어 (Advanced User Interface Control) 와 그래픽 분석 도구 (Graphical Analysis Tool) 를 통해 테스트 구성을 사용자 정의하고 효율적으로 관리할 수 있습니다. 평면 패널 디스플레이 플랫폼을 사용하면 데이터를 쉽게 보고 분석할 수 있습니다. EG 4090은 고유 한 교정 시스템을 사용하여 프로버의 X/Y/Z 이동 매개변수를 모니터링하고 조정하여 테스트 중에 높은 정확도와 반복 성을 제공합니다. 이 장치는 또한 고급 전류 모니터링을 사용하여 효율적이고, 안정적이며, 정확한 Probing 결과를 보장합니다. 또한, 자동 대각선 함수는 잘못된 정렬 오류를 제거하여 정확한 검사 및 테스트를 보장합니다. 내장 듀얼 암 로봇 핸들러는 다이 레벨 (die-level) 및 웨이퍼 레벨 (wafer-level) 테스트를 위해 빠른 장치 처리 및 로딩을 제공합니다. 또한 안전한 웨이퍼 처리 및 고속 테스트를 보장하는 진공 그리핑 머신 (vacuum griping machine) 이 있습니다. 마지막으로, Prober에는 테스트 프로세스를 모니터링하고 쉽게 문제를 해결할 수 있는 자동 테스트 (Auto-Test) 상태 도구가 장착되어 있습니다. 전반적으로 ELECTROGLAS EG4090 Prober는 반도체 장치 테스트 솔루션의 주요 발전으로, 사용자에게 안정적이고, 정확하며, 빠른 테스트 주기를 제공합니다. 광범위한 디바이스를 테스트할 수 있으며, 직관적인 사용자 인터페이스 (user interface) 를 제공하여 테스트 구성을 효율적으로 관리할 수 있습니다.
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