판매용 중고 ELECTROGLAS / EG 4090 PSM #293821804

ELECTROGLAS/EG 4090 PSM은 실리콘 웨이퍼에서 집적 회로 (IC) 를 테스트하기 위해 반도체 제조에 사용되는 강력하고 정밀도가 높은 자동 웨이퍼 프로버입니다. 이 프로버 (Prober) 는 최대 300mm 직경의 웨이퍼를 처리하도록 설계되었으며, 반도체 테스트 및 특성화에 필수적인 툴이 되는 고급 기능과 기능을 제공합니다. EG 4090 PSM의 주요 구성 요소에는 정밀 단계 조작기, 프로빙 메커니즘 및 정교한 제어 시스템이 포함됩니다. 스테이지 조작기 (stage manipulator) 는 프로빙 메커니즘 아래의 웨이퍼를 정확하게 배치하여 정밀한 정렬을 보장하고 IC 의 테스트 패드와 접촉합니다. 프로빙 메커니즘은 웨이퍼 (wafer) 의 IC (IC) 와 전기적 접촉을 만드는 고성능 프로브 세트로 구성되어 저항, 커패시턴스 (capacitance), 인덕턴스 (inductance) 와 같은 다양한 전기 매개변수를 측정 할 수 있습니다. ELECTROGLAS 4090 PSM의 뛰어난 기능 중 하나는 고급 자동화 기능입니다. 프로버 (Prober) 는 자동으로 웨이퍼를 로드하고 언로드할 수있는 로봇 웨이퍼 처리 시스템 (Robotic Wafer Handling System) 을 갖추고 있어 수동 개입이 줄어들고 처리량이 증가합니다. 또한, Prober는 테스트 프로그램 생성, 데이터 분석, 보고, 테스트 프로세스 간소화, 전반적인 효율성 향상을 위해 소프트웨어 시스템과 통합될 수 있습니다. 4090 PSM은 정확성과 반복성 측면에서 탁월한 성능을 제공합니다. 프로버 (Prober) 는 작고 밀도가 높은 IC에도 일관되고 안정적인 측정 결과를 보장하는 고정밀 스테이지와 프로브를 갖추고 있습니다. 프로버 제어 시스템 (Prober's Control System) 은 프로브 힘, 위치 및 기타 매개변수를 실시간으로 조정하여 프로브와 IC 간의 접촉을 최적화하고 웨이퍼 손상 위험을 최소화할 수 있습니다. ELECTROGLAS/EG 4090 PSM은 성능 및 자동화 기능 외에도 다용성 및 유연성으로 유명합니다. 이 Prober는 다양한 테스트 구성과 호환되며, 다양한 Wafer 크기, Probe 유형, 테스트 요구 사항을 충족하도록 쉽게 사용자 정의할 수 있습니다. 이러한 유연성을 통해 Prober는 Parametric Testing, Failure Analysis, Device Characterization 등 다양한 애플리케이션에 적합합니다. 전반적으로, EG 4090 PSM은 정교하고 신뢰할 수있는 웨이퍼 프로버로, 반도체 테스트 및 품질 보증에 중요한 역할을합니다. 첨단 자동화 기능, 정밀 측정 성능, 다용도 (versitility) 를 통해 IC의 신뢰성과 기능을 보장하고자 하는 반도체 제조업체에게는 없어서는 안 될 도구입니다. 최첨단 기술과 견고한 디자인으로 ELECTROGLAS 4090 PSM은 반도체 업계의 자동 웨이퍼 프로브 (automated wafer probing) 표준을 설정합니다.