판매용 중고 ELECTROGLAS / EG 4080X #293625478

ELECTROGLAS/EG 4080X는 고급 웨이퍼 프로브 어플리케이션을 위해 설계된 고성능 프로버입니다. 이 제품은 견고한 기계적 설계와 완벽하게 통합된 소프트웨어/하드웨어 구성 요소 제품군을 갖추고 있습니다. 이 프로버는 수동 및 자동 작동에 적합하며 최대 8 인치 직경의 웨이퍼를 처리 할 수 있습니다. Prober는 특허를받은 EGC 제어 메커니즘을 갖춘 전방향 프로버 암을 제공하여 높은 정확도, 저소음 및 반복 가능한 프로브를 가능하게합니다. 또한 프로버 (Prober) 는 조정 가능한 Probe 카드 어댑터를 지원하므로 재보정 필요 없이 모든 Probe 카드 사이를 쉽게 전환할 수 있습니다. EG 4080 X에는 모터와 서보 루프 (Servo Loop) 제어 장비가 장착되어 있어 프로버 헤드의 정확하고 반복 가능한 움직임을 보장합니다. 이 Prober는 빠르고 쉬운 설치 및 작동을 위해 온보드 운영 체제로 설계되었습니다. 직관적인 사용자 인터페이스 (user interface) 는 스캔 데이터의 실시간 표시 및 로깅 (logging) 뿐만 아니라 prober 특정 설정의 라이브러리를 제공합니다. 사용자는 Prober의 X-Y 및 EGC 축 모두에서 속도, 가속, 접촉력과 같은 Probe 매개변수를 완전히 제어합니다. ELECTROGLAS EG4080X 프로버는 범프 다이 프로브 (bumped die probing) 및 플립 칩 측정과 같은 고급 응용 프로그램에도 적합합니다. 프로그래밍 가능한 Probe 카드 배열을 통해 사용자는 모든 Prober 응용 프로그램에 대한 최적의 Needle 및 Probe 장치를 쉽게 선택할 수 있습니다. 이 프로버는 EG 악기 세트를 기반으로하며, 누수 테스트, 직렬 프로그래밍, 프로세스 제어 및 데이터 수집을위한 내장 기능이 있습니다. 생산성을 높이기 위해 Prober는 멀티 다이 프로브 (multi-die probing) 를 지원하여 사용자가 단일 테스트에서 여러 다이 (die) 를 빠르고 정확하게 조사 할 수 있습니다. 이 Prober는 가장 까다로운 환경 조건에서 강력한 성능, 최대의 신뢰성을 제공하도록 설계되었습니다. IPMI 카드는 무관용 (out-of-tolerance) 운영 매개변수가 현장에서 신속하게 기록, 식별 및 수정되도록 합니다. 이 기능은 또한 Prober를 리모콘하는 기능도 제공합니다. 결론적으로, ELECTROGLAS 4080X 고성능 프로버는 수동 및 자동 작동이 모두 가능한 고급 웨이퍼 프로빙 도구입니다. 독보적인 전방향 프로버 암 (Prober Arm), 내장형 운영 체제 (Operating Machine) 및 조절식 Probe 카드 어댑터가 장착되어 있어 다양한 웨이퍼와 장치를 신속하게 조사 할 수 있습니다. 이 신뢰성이 높은 프로버 (Prober) 는 가장 까다로운 Probing 어플리케이션에 이상적이며 일반 및 고급 Wafer Probing 요구 모두에 적합한 솔루션입니다.