판매용 중고 ELECTROGLAS / EG 4080 #9375666

ELECTROGLAS/EG 4080은 다양한 반도체 장치 테스트 응용 프로그램을 위해 설계된 전문가입니다. 이 제품은 다양한 기능과 기능을 제공하여 다양한 반도체 장치 테스트 요구 사항을 충족하는 고급 (Advanced), 고도로 구성 가능한 회로 내 (in-circuit) 프로버입니다. EG 4080은 수직 프로브, 수평 프로브, 압축 스프링 프로브, DUT 프로브 등 다양한 조정 가능한 프로빙 시스템을 갖추고 있으며, ELECTROGLAS EG4080에서 다양한 유형과 크기의 반도체 장치를 테스트 할 수 있습니다. 이 시스템은 다양한 스캔 옵션 (Scanning Option) 을 갖추고 있으며, 사용자가 선택한 영역의 장치 상단 (Top of Device) 을 검사하고, 각 디바이스의 특정 요구에 맞게 스캔 매개변수를 조정할 수 있습니다. 또한, EG EG4080 은 여러 개의 Probing 시스템을 지원하므로, 사용자가 여러 장치에 대해 여러 Probe 를 제어할 수 있습니다 (모두 동일한 시스템 내에 있음). EG4080은 또한 온도 사이클링 (temperal cycling) 및 열 흐름 테스트 (thermal flow testing) 와 같은 고급 테스트 응용 프로그램을 특징으로하며, 이는 다양한 온도 및 흐름 조건에서 반도체 장치의 내구성을 테스트하는 데 사용될 수 있습니다. 또한 신속하고 자동화된 장애 분석 툴 (Fault Analysis Tools) 을 통해 문제를 신속하게 해결하고 적절한 해결 조치를 취할 수 있습니다. 4080 은 FTAS (Advanced Programming Language) 라는 고급 프로그래밍 언어를 비롯한 강력한 진단 및 프로그래밍성을 제공하며, 이를 통해 사용자는 복잡한 테스트 계획을 정의하고 FTAS 언어를 사용하여 강력한 테스트 서비스를 만들 수 있습니다. 네트워크 프로브 (Networked Probing) 와 같은 고급 기능을 통해 사용자는 단일 PC에서 여러 프로버를 쉽게 제어, 모니터링할 수 있으므로 테스트 처리량이 향상되고 테스트 유연성이 향상됩니다. ELECTROGLAS 4080 은 또한 고급 데이터 로깅 (advanced data logging) 기능을 제공하여 사용자가 향후 참조 및 분석을 위해 테스트 중에 수집한 데이터를 분석 및 기록할 수 있도록 지원합니다. Prober는 또한 장치 진단 및 디버깅 (Debugging) 을 지원하므로 사용자가 신속하고 효율적으로 문제를 식별하고 디버깅할 수 있습니다. ELECTROGLAS/EG EG4080 (ELECTROGLAS/EG EG4080) 은 다양한 유형의 반도체 장치를 테스트하는 데 광범위한 애플리케이션을 갖추고 있으며, 다양한 테스트 환경에서 사용할 수 있을 정도로 유연합니다. 프로버 (Prober) 의 고급 기능을 통해 다양한 고급 테스트 (Advanced Testing) 요구 사항에 적합한 옵션을 선택할 수 있습니다. 효율적이고 자동화된 장애 분석 (fault analysis) 기능과 더불어 강력한 진단/프로그래밍성 (diagnostic/programmability) 기능을 통해 다양한 반도체 장치를 테스트하고 디버깅하는 데 이상적인 솔루션이 됩니다.