판매용 중고 ELECTROGLAS / EG 2001X #9357000

ELECTROGLAS/EG 2001X 프로버는 반도체 웨이퍼 및 장치를위한 고정밀, 자동, 다기능 전기 테스트 시스템입니다. 반도체 웨이퍼 (wafer) 와 디바이스에 대한 정확하고 효율적인 테스트는 물론, 높은 처리량과 유연성을 제공하도록 설계되었습니다. prober는 두 가지 주요 구성 요소, 즉 prober base와 wafer chuck으로 구성됩니다. 프로버 베이스 (Prober Base) 는 최대 3 개의 테스트 카드를 보유한 동력 장치로 테스트 헤드에 꽂습니다. 테스트 헤드는 테스트 중에 샘플을 보관하는 샘플 홀더 (sample holder), 전력과 제어를 제공하는 테스트 헤드에 꽂는 테스트 카드 (test card), 샘플을 측정하는 암 (arm) 으로 구성됩니다. 웨이퍼 척 (wafer chuck) 은 기계적으로 작동하는 회전 가능한 플레이트로 테스트 중에 웨이퍼 또는 장치를 안전하게 보관합니다. 이 Prober는 PLC (Controller Programmable Logic Controller) 가 포함 된 터치 스크린이있는 27 "콘솔 모니터에서 작동합니다. 이 콘솔 제어판은 테스트 타이밍, 샘플 로드 및 언로드, 압력 제어, 측정 매개변수 등 다양한 Prober 기능에 대한 액세스를 제공합니다. 또한, 별도의 비전 시스템 (vision system) 을 통해 샘플을 자동으로 검사할 수 있으므로 샘플을 수동으로 검사할 필요가 없습니다. 또한 Prober에는 SCTS (Self-Checking Test System) 가 포함되어 있으며, 이 시스템은 설정 중 올바른 작동을 위해 각 샘플을 자동으로 테스트합니다. 따라서 테스트 정확성과 반복 가능성을 최적화하면서 사용자 오류가 발생하지 않습니다. Prober의 테스트 헤드는 저항, 커패시턴스, 전압, 온도, 전류 측정 등 다양한 테스트를 할 수 있습니다. 프로버 (Prober) 는 웨이퍼 (Wafer) 및 다이 정렬 (Die Sort) 기능과 같은 다양한 옵션 기능을 통해 추가로 사용자 정의 할 수 있습니다. 이 기능은 웨이퍼를 자동으로 정렬하고 지정된 테스트 저장소로 사망할 수 있습니다. EG 2001 X prober는 매우 정확하고 효율적인 전기 테스트 솔루션을 제공하도록 설계되었습니다. 다용도, 신뢰성, 비용 효율적인 설계로 다양한 연구/생산 테스트 어플리케이션에 적합합니다.