판매용 중고 ELECTROGLAS / EG 2001X #9356489

ELECTROGLAS/EG 2001X는 집적 회로의 성능을 테스트하도록 설계된 반도체 웨이퍼 프로버입니다. 이 검사는 웨이퍼 표면을 자동화하고 고속 프로브를 할 수 있습니다. EG 2001 X는 벡터 기반 장비에서 작동하며, 병렬로 최대 150 개의 프로브를 스캔 할 수 있습니다. 이를 통해 Prober는 대기 시간이 매우 적은 많은 수의 테스트 포인트를 처리 할 수 있습니다. 초당 최대 5 백만 개의 테스트 포인트 (테스트 포인트) 로, 프로버는 대용량 생산을위한 정밀도와 속도를 제공합니다. 프로버 (Prober) 는 위치 및 속도를 완벽하게 제어하는 통합 모터 컨트롤러 시스템으로 구동됩니다. 이를 통해 프로버는 정확하고 반복 가능한 결과를 제공 할 수 있습니다. 또한, ELECTROGLAS EG2001X에는 엄격한 공차 내에서 테스트 벡터가 유지되도록 이중 축 서보 모터가 있습니다. 프로버는 또한 자동 교정 장치를 사용합니다. 이 기계는 보정 결과를 추적, 측정 및 기록할 수 있습니다. 또한 2001X는 테스트 데이터 및 웨이퍼 표면 형태에 대한 심층 분석을 제공합니다. 이 기능을 사용하면 다른 테스트 환경의 측정 데이터를 비교하고 회로 성능에 대한 보다 깊은 통찰력을 얻을 수 있습니다 (영문). ELECTROGLAS 2001X는 광범위한 환경 조건에서 효과적으로 작동하도록 설계되었습니다. 여기에는 섭씨 15 ° - 55 ° 의 온도 환경과 20% 에서 80% 의 습도가 포함됩니다. 또한, 프로버는 ESD, 과전압 및 과전류 보호 메커니즘을 가지고 있으며, 까다로운 테스트 환경에서도 안정적으로 수행 할 수 있습니다. EG EG2001X 에는 Probe 제어 및 테스트 데이터 분석을 위한 소프트웨어 제품군도 함께 제공됩니다. 이 툴은 다양한 타사 소프트웨어 애플리케이션과 호환되며, 다용도가 매우 뛰어납니다. 이 Prober는 반도체 웨이퍼 테스트를 위해 강력한 성능, 안정성, 다양한 기능을 제공합니다.