판매용 중고 ELECTROGLAS / EG 2001X #9244736

ELECTROGLAS/EG 2001X는 반도체 테스트 응용 프로그램에 사용하도록 설계된 전문가입니다. 집적 회로와 마이크로 프로세서를 특성화하는 데 사용되며, 이는 매우 정확한 측정이 필요합니다. EG 2001 X 는 장치를 정확하고 신뢰성 있게 조사할 수 있도록 필요한 정밀도를 제공합니다. 프로버에는 외부 모션 컨트롤 콘솔과 일련의 장력 제어 마이크로 프로세서가 있습니다. 또한 몇 가지 작은 정밀 프로브를 포함하는 앤빌 스타일 프로브 헤드가 특징입니다. 이를 통해 프로브 (Probe) 의 끝이 가장 작고 복잡한 영역에서도 장치와 접촉 할 수 있습니다. "앤빌 '은 또한 광범위 한 움직임 을 제공 해 주며," 앤빌' 의 끝 높이 를 조정 하여 원하는 정확 한 부분 을 신속 히 기록 할 수 있다. ELECTROGLAS EG2001X 프로버 (Prober) 에는 나노 미터 수준까지 표면 높이 차이를 정확하게 측정 할 수있는 스캔 측정 장비도 포함되어 있습니다. 이 스캐너 (scanner) 는 프로브가 테스트 영역 위로 이동하면서 장치 표면에 존재하는 전압 (voltage) 을 측정하는데, 이를 통해 초기 개발 단계에서 회로를 정확하게 추적하고 회로 결함을 확인할 수 있습니다. 또한 시력 시스템 (vision system) 과 시력 자동 초점 장치 (vision-assisted autofocus unit) 도 포함되어 있으며, 대상 서피스의 위치를 자동으로 감지하고 앤빌 높이를 조정하여 장치의 서피스와 정확하고 일관된 접촉을 보장합니다. 정전기 방지 장치 (Electrostatic Protection Machine) 는 장치의 배출량 및 잠재적 손상을 줄이기 위해 설계되었습니다. 외부 제어 콘솔에서 노출 수준 (External Level) 과 전압 범위 (Voltage Range) 를 선택하여 정전기 보호 도구를 쉽게 제어할 수 있습니다. 또한, 프로버 (Prober) 는 섭씨 25도에서 250도 사이의 온도에서 테스트 장치를 압축 할 수있는 다양한 온도 설정을 가지고 있습니다. 전체적으로 2001X (2001X) 는 매우 정확하고 신뢰할 수 있는 전문가로서, 다양한 기능을 제공하여 반도체 테스트에 적합합니다. 내구성과 높은 수준의 정확성 덕분에 신뢰성 있고 정확한 테스트 솔루션 (Testing Solution) 을 원하는 하이테크 (High Tech) 기업에게 탁월한 선택이 가능합니다.