판매용 중고 ELECTROGLAS / EG 2001X #9224663

ELECTROGLAS/EG 2001X는 다양한 반도체 장치를 테스트하는 데 사용할 수있는 고급 반도체 프로버입니다. 포지셔닝 정확성 및 반복성, 고속 프로그래밍 가능 모션, 소프트웨어 기반 패턴 매칭 (pattern-matching) 등 다양한 전문 기능을 갖춘 다목적 전문가입니다. EG 2001 X 는 첨단 기술을 통해 전기 테스트, 장애 분석, 수율 향상 등 다양한 Probing 애플리케이션에 적합합니다. ELECTROGLAS EG2001X는 측정의 정확성과 반복성을 높이는 4 사분면 X/Y 구성의 디지털 방식으로 제작된 듀얼 헤드 설계를 갖추고 있습니다. 각 헤드에는 각 프로브의 팁 반지름과 방향을 정확하게 측정 할 수있는 UHV 호환 팁 (tip) 도량형 장비가 장착되어 있습니다. 이를 통해 프로브는 프로브 중에 정확한 결과를 제공합니다. EG EG2001X의 프로그래밍 가능한 모션 제어 시스템은 프로브의 빠른 속도와 정확성을 제공합니다. 프로버 (Prober) 의 동작 제어 장치 (Motion Control Unit) 는 간단하고 복잡한 동작 패턴을 위해 프로그래밍 될 수 있으며, 다양한 테스트 절차와 여러 측정 지점을 허용합니다. 또한 EG 2001X의 고급 포지셔닝 머신 (advanced positioning machine) 을 응용 프로그램 및 웨이퍼 크기에 따라 위치 매개변수로 프로그래밍할 수 있습니다. ELECTROGLAS 2001 X 의 LAN 제어 소프트웨어 방식 패턴 일치 기능을 통해 연산자의 개입을 최소화하면서 여러 테스트의 위치를 정확하게 정하고 측정할 수 있습니다. 이 고급 기능을 통해 2001X는 테스트 및 장애 분석 어플리케이션 모두에 이상적인 툴이 되었습니다. 2001 X UHV 호환 설계를 통해 웨이퍼를 손상시키거나 기존 마이크로 제조 프로세스를 방해하지 않고 프로브를 사용할 수 있습니다. 이를 통해 EG2001X는 UHV 도구가 손상되지 않고 부드럽고 반복 가능한 프로브를 보장하기 때문에 항복 개선을 포함한 많은 프로덕션 응용 프로그램에 적합합니다. ELECTROGLAS/EG EG2001X는 전기 테스트, 장애 분석, 수율 향상 등 다양한 Probing 애플리케이션에 적합한 매우 다양한 Prober입니다. ELECTROGLAS/EG 2001 X는 프로그래밍 가능한 모션, 전자 데스크톱 듀얼 헤드 디자인, UHV 호환 프로브 팁 측정 및 소프트웨어 기반 패턴 매칭과 같은 고급 기술 기능을 통해 매우 정확하고 반복 가능한 결과를 제공합니다.