판매용 중고 ELECTROGLAS / EG 2001X #9194747

ELECTROGLAS/EG 2001X Prober는 EG에서 제조 한 상업용 웨이퍼 프로빙 스테이션이며 반도체 웨이퍼 테스트를 위해 설계되었습니다. 이 제품은 운영 제품군 (Production Line) 과 랩 (Lab) 환경에서 사용하기에 이상적이며, 정확도가 높은 스캔 및 테스트 작업을 빠르고 정확하게 수행할 수 있습니다. EG 2001 X Prober에는 반도체 테스트에 이상적인 몇 가지 주요 기능이 있습니다. 고급 3 축 장비를 장착하여 정밀 패턴 인식 및 자동 제어가 가능합니다. 이 시스템은 200 핀 커패시턴스 커플 링 된 프로빙 노드와 결합하여, 높은 정확도로 동시에 여러 핀을 테스트 할 수 있습니다. 이 플랫폼에는 자동 3 축 샘플 로더 (샘플 로더) 가 포함되어 있습니다. 이 로더는 샘플을 빠르고 정확하게 정렬할 수 있으며 테스트 중인 웨이퍼의 클로즈업 뷰를 제공하는 고해상도 현미경입니다. ELECTROGLAS EG2001X Prober는 알루미늄, 실리콘, 갈륨 비소 등을 포함한 광범위한 반도체 재료를 테스트 할 수 있습니다. 최대 웨이퍼 크기는 12 인치 (12 인치) 이며 테스트 사이트당 최대 핀 수는 120 (120 핀) 입니다. 이 장치는 또한 여러 테스트를 병행하여 처리 시간 (turnaround time) 을 줄일 수 있습니다. 또한 테스트 패턴을 저장할 수 있으며, 테스트 정보를 저장하는 데 사용할 수 있는 타이밍 생성기 (timing generator) 와 로그북 (logbook) 이 내장되어 있습니다. 이 상용 웨이퍼 프로브 스테이션에는 직관적이고 사용하기 쉬운 그래픽 사용자 인터페이스 (Graphical User Interface, GUI) 가 장착되어 있어 빠른 프로그래밍 및 설정이 가능합니다. 또한 테스트 정보에 대한 실시간 액세스를 제공할 수 있습니다. 테스트 정보는 그래픽으로, 숫자로 표시됩니다. 이를 통해 신속한 문제 해결과 효율적인 제품 테스트가 가능합니다. 전반적으로 2001 X Prober는 반도체 웨이퍼의 정확하고 정밀한 테스트에 적합한 선택입니다. 3 축 기계는 뛰어난 패턴 인식 및 자동 제어를 제공하는 반면, 200 핀 커패시턴스 결합 프로빙 노드는 병렬 테스트를 빠르고 쉽게 수행합니다. 내장형 기능은 테스트 패턴을 쉽게 저장하고 테스트 정보를 액세스할 수 있게 해 주며, 직관적인 GUI 를 통해 설치 (setup) 및 프로그래밍을 간편하게 수행할 수 있습니다.