판매용 중고 ELECTROGLAS / EG 2001X #9155126

ELECTROGLAS/EG 2001X는 최신 웨이퍼 프로브 및 테스트를 위해 설계된 고속, 다기능 프로버 장비입니다. 비접촉 스캔, 고밀도 동작 기능, 고속 데이터 획득, 고급 도량형 솔루션, 실시간 피드백 등 다양한 기능을 제공합니다. 이 시스템에는 0.007um 범위의 3 축 웨이퍼 포지셔너 (wafer positioner) 가 있어 정확한 포지셔닝이 가능합니다. Prober의 나노 미터 레벨 해상도는 스캐닝과 포지셔닝 모두에 뛰어난 정확도를 제공합니다. 내장형 고해상도 3축 선형 인코더는 웨이퍼 위치 및 동작의 실시간 피드백을 제공합니다. EG 2001 X는 최대 샘플링 속도 200kHz로 빠른 자동 스캔을 달성합니다. 0.01 ~ 1000mm 범위의 전기 프로그래밍 가능한 시야를 통합합니다. 이를 통해 프로버는 웨이퍼, 반도체 부품, 인쇄 회로 기판 (printed circuit board) 등의 다양한 어플리케이션에 적합합니다. 이 장치에는 강력한 도량형 소프트웨어가 장착되어 있어 Wafer 및 Component 의 Profile, Position, Size 및 Distance 를 손쉽게 확인할 수 있습니다. 이 소프트웨어는 또한 웨이퍼 (wafer), 컴포넌트 (components) 및 pcb 도식 (schematics) 에 대한 완전한 추적 기능을 제공하여 기계가 산업 표준을 준수하도록 도와줍니다. 일렉트로 글라스 EG2001X (ELECTROGLAS EG2001X) 는 여러 유형의 프로브 카드 연결을 지원하며, 다양한 유형의 테스트에 사용할 수있는 다양한 프로브를 제공합니다. 이 도구는 확장성이 뛰어나 추가 액세서리 및 주변 장치를 연결할 수 있습니다. 소프트웨어는 사용자 친화적이며, 사용자가 설정을 사용자 정의하고, 실시간 프로세스 피드백을 관찰하고, 반복성과 정확성을 보장할 수 있습니다. 전반적으로 EG2001X 는 매우 정확한 스캐닝 및 포지셔닝 기능, 신속한 데이터 획득, 포괄적인 도량형 (metrology) 소프트웨어 등을 제공하는 탁월한 자산입니다. 광범위한 애플리케이션의 요구 사항을 충족할 수 있도록 설계되었습니다. 사용자 친화적 인 소프트웨어와 확장성을 갖춘 프로버 (Prober) 모델은 반도체 및 PCB 테스트에 이상적인 솔루션입니다.