판매용 중고 ELECTROGLAS / EG 2001X #9155121

ELECTROGLAS/EG 2001X 프로버는 컴퓨터 제어 반도체 조사 및 테스트 장비입니다. 반도체 소자의 개발· 생산· 현장서비스 등에서 전기적 특성· 고장분석을 위한 고정밀도 프로브를 제공하는 자동화된 시스템이다. 이 장치는 높은 수준의 정확성과 반복 성을 제공하기 때문에 고급 IC (advanced IC) 및 MEMS (MEMS) 장치에 사용됩니다. EG 2001 X Prober는 종합적인 장치 검사 및 정확한 테스트를 위해 포괄적인 하드웨어/소프트웨어 옵션을 제공합니다. wafer probing, test jig, pick-and-place testing, contactless testing 등 다양한 기술이 가능합니다. Prober의 고급 스캐닝 어레이 (Scanning Array) 현미경은 위치 및 결함 진단을 위해 빠르고 정확한 이미지 입수를 가능하게 합니다. 이 기계에는 초고속, 자동 교정 도구가 장착되어 있어 알 수없는 회로를 빠르고 정확하게 조사합니다. 프로브 헤드는 고밀도 프로브를 지원하고 최대 100nm 프로브 해상도를 제공하도록 설정 할 수 있습니다. 자동 전압 오프셋 측정 자산 (automated voltage offset measurement asset) 은 검사에 대한 장치 응답을 감지하여 검사의 정확도에 대한 피드백을 제공합니다. 이 모델은 빠르고 정확한 전기 테스트 생성 및 분석을 위해 특허를받은 빠른 알고리즘 (fast algorithm) 을 갖추고 있습니다. 통합 소프트웨어 인터페이스는 포괄적인 제어/분석 툴을 제공하며, 스크립팅, 데이터 스토리지, 사후 처리 기능을 완벽하게 지원합니다. 다중 장치 테스트 설정, 분기, 루핑, 스테핑 등의 간편한 구성 옵션을 통해 테스트 프로그램의 정확성을 빠르고 쉽게 최적화할 수 있습니다. ELECTROGLAS EG2001X Prober는 사용하기 쉬운 GUI 인터페이스와 사용 편이성을 향상시키는 직관적인 명령을 제공합니다. 이 장비는 다양한 실험실, 산업 환경에서 효율적이고 안정적인 운영을 위해 설계되었습니다. 운영자에게 다양한 진단 기능, 테스트 결과 검증, 프로그램 관리, 데이터 스토리지 기능을 제공합니다.