판매용 중고 ELECTROGLAS / EG 2001X #9083327

ELECTROGLAS/EG 2001X는 반도체 장치 구성 프로세스에서 웨이퍼 테스트 및 프로세스 제어에 사용되는 다기능 증명서입니다. 이 Prober는 Active Drive 기술을 사용하며, 빠른 속도와 반복 가능한 정확성을 제공합니다. EG 2001 X는 Advanced Random Step, Vector Step, Direct Drive 및 Speed Sweep Scan과 같은 여러 작동 모드를 제공합니다. 고급 임의 단계 (Advanced Random Step) 모드는 적은 시간 내에 광범위한 단계를 빠르게 프로그래밍하고 실행할 수 있게 함으로써 정확도와 처리량을 높입니다. 벡터 단계 (Vector Step) 모드를 사용하면 웨이퍼의 여러 사이트에서 특정 패턴을 추적해야 하는 경우 테스트 단계에 따라 경로를 그릴 수 있습니다. '직접 드라이브 (Direct Drive)' 모드를 사용하면 수동 정렬과 조정을 수행하지 않고도 테스트 위치 사이를 빠르게 트래버스할 수 있습니다. 마지막으로, 속도 스윕 스캔 (Speed Sweep Scan) 모드는 테스트 중 동작 방향을 반전시켜 프로버 속도와 정확도를 더욱 높입니다. ELECTROGLAS EG2001X (ELECTROGLAS EG2001X) 는 긴 테스트 거리에 걸쳐 뛰어난 정확도를 제공하며, 능동형 드라이브 기술로 테스트 단계 수가 증가하더라도 정확도를 유지할 수 있습니다. 고급 오류 처리 (error handling) 및 진단 (diagnostics) 기능은 테스트 결과에 영향을 줄 수 있는 오류를 감지, 진단 및 수정하여 정확도를 더욱 향상시킵니다. 2001 X에는 고급 안전 기능 및 사용자 인터페이스도 있습니다. 고온보호 (HTD) 와 충돌탐지시스템 (Collision Detection System) 을 탑재해 예기치 못한 사태가 발생할 경우 프로버 (Prober) 와 해당 부품을 보호한다. 사용자 친화적 인 터치스크린 인터페이스는 운영 도구와 설정을 손쉽게 액세스하여 사용자 환경을 향상시킵니다 (영문). 또한 내장형 모니터링 시스템을 사용하여 실시간으로 Prober의 성능을 모니터링할 수 있습니다. 전반적으로, EG EG2001X (EG EG2001X) 는 테스트 및 프로세스 제어 작업을 빠르고 정확하게 실행할 수 있는 고급 기능과 기술을 갖춘 효율적이고 강력한 전문가입니다. 고급 안전 (Safety) 및 오류 처리 (Error Handling) 기능은 높은 성능과 안정성을 보장하는 반면, 사용자 친화적인 인터페이스를 통해 Prober를 쉽게 구성하고 모니터링할 수 있습니다.