판매용 중고 ELECTROGLAS / EG 2001X #9014705

EG (ELECTROGLAS) ELECTROGLAS/EG 2001X 프로버는 반도체 칩 생산을 돕기 위해 설계된 전문 도구입니다. Wafer Probing Process (Wafer Probing Process) 에 일반적으로 사용되며, 이는 더 큰 통합 장비에 통합되기 전에 전기 특성 및 성능에 대한 IC (Integrated Circuit) 칩을 테스트하는 프로세스입니다. EG 2001 X prober는 다양한 Probing, Scanning 및 Mapping 활동을 수행 할 수있는 컴퓨터 제어 다기능 기계입니다. 엔지니어는 정확한 측정을 통해 단일 칩에 거친 지점을 식별하고 디버깅 할 수 있습니다. 이 장치는 검사, 테스트, 분석에 사용되는 다양한 애플리케이션 소프트웨어와 호환됩니다. ELECTROGLAS EG2001X는 레이아웃과 설정의 유연성을 허용하는 컴팩트한 모듈식 설계를 특징으로합니다. 여기에는 프로브 암에 직접 장착되는 고속 모션 제어 툴 헤드가 포함됩니다. 이 공구 헤드는 마이크로 리드 (micro-lead) 와 바늘 (needle) 을 포함한 다양한 공구를 처리하도록 설계되었습니다. Probe Arm은 자동화된 프로세스 제어를 위해 외부 디지털 제어 시스템에 연결됩니다. 2001X는 고해상도의 자동 웨이퍼 포지셔닝 장치를 갖추고 있습니다. 이 기계는 대각선 이동 및 회전을 포함한 XYZ 동작이 가능하며, 이를 통해 검사는 신속하게 결함을 식별하고 측정할 수 있습니다. 웨이퍼 위치 지정 도구 (wafer positioning tool) 를 사용하면 프로버가 제대로 정렬되어 프로브 후 IC의 특성을 정확하게 평가할 수 있습니다. ELECTROGLAS 2001X에는 고성능 스캔 모듈이 포함되어 있습니다. 이 모듈은 칩의 활성 영역 (Active Area) 의 품질을 자동으로 측정하고 이상 (Anomalies) 을 찾도록 설계되었습니다. 통일성 불규칙성을 평가하고, 도펀트 농도를 측정하고, 다른 테스트 작업을 수행 할 수 있습니다. ELECTROGLAS/EG 2001 X prober는 일반적으로 집적 회로의 신속한 평가 및 디버깅을 위해 IC 생산 실험실에서 사용됩니다. 고해상도 스캐닝 기능과 자동화된 프로세스 제어 (Automated Process Control) 기능을 통해 Prober는 정확한 웨이퍼 프로브 (Wafer Probing) 데이터를 적시에 제공할 수 있습니다. 사용 편의성은 IC 생산 과정에서 귀중한 도구입니다.