판매용 중고 ELECTROGLAS / EG 2001X #293770739

ELECTROGLAS/EG 2001X Prober는 반도체 장치, 보드 및 시스템의 테스트 및 문제 해결에 필수적인 도구입니다. 전기 및 기계적 특성에 대한 정확하고 신뢰할 수있는 조사를 제공합니다. 인체 공학적 설계와 직관적인 사용자 인터페이스 (User Interface) 는 작업 공간 (Work Space) 을 편리하게 제공하며, 다양한 옵션과 액세서리를 통해 고객별 구성에 맞게 조정할 수 있습니다. EG 2001 X 는 저렴한 엔트리 레벨 (엔트리 레벨) 설정에서 고급 자동화 및 항복 관리 시스템에 이르기까지 다양한 테스트 환경을 위해 설계되었습니다. 대형 수직 및 측면 단계, 강력한 X-Y-Z-R 로봇 암 및 25.4mm (1 인치) 길이의 Z 축 드라이브가 특징입니다. 이를 통해 많은 장치, 보드, 시스템을 테스트할 때 정확한 반복 가능성과 정확성을 얻을 수 있습니다. X축은 20인치 (508 mm) 드라이브 범위를 갖추고 있으며, 다양한 샘플 크기와 모양을 조사 할 때 다양한 수준의 다재다능성을 제공합니다. 이 프로버에는 다양한 테스트 방법을 위해 다양한 샘플 홀더와 비품이 제공됩니다. 예를 들어, 표준 Probe 카드 어댑터를 사용하면 풀다운 힘 감지 (Pull Down Force Sensing) 및 플라즈마 에치 테스트를 수행할 수 있습니다. 옵션으로, 프로버에는 포고 핀 기반 프로빙 시스템 (pogo-pin-based probing system) 과 프로브 카드 (소형 및 소형 패키지에 사용하도록 설계) 가 장착 될 수 있습니다. ELECTROGLAS EG2001X는 또한 실시간 디스플레이 및 상호 연결 다이어그램의 자동 캡처, 전압, 파형, 스펙트럼, 시간 도메인 및 기타 파형 메모리와 같은 많은 소프트웨어 기능을 제공합니다. 실시간 파형 저장, 파형 확대/축소 및 재생을 제공합니다. 이 소프트웨어는 효율성을 극대화하고 테스트 시간을 단축할 수 있도록 설계되었습니다. EG 마스터 (EG Master) 및 슬레이브 (Slave) 테스트 기능을 통해 여러 장치를 동시에 테스트할 수 있으므로 대용량 운영 테스트와 운영 라인 테스트에 적합합니다. 또한, 여러 테스트 비즈니스 인텔리전스를 제공하여 문제 해결, 추적 및 추적, 결함 분석, 엔지니어링 변경 분석 등을 더욱 지원합니다. 2001 X Prober는 다양한 산업에서 신뢰할 수 있고 정확한 Prober 솔루션입니다. 탁월한 설계, 정확한 움직임, 강력한 제공 시스템을 통해 테스트 시간 단축, 제품 품질 향상, 수율 향상 등의 효과를 얻을 수 있습니다. 다양한 기능과 옵션을 통해 다양한 설정 (setting) 과 작업 (task) 에 적응할 수 있으며, 따라서 전자 시스템의 테스트, 문제 해결에 유용한 툴입니다.