판매용 중고 ELECTROGLAS / EG 2001X #293759301

ELECTROGLAS/EG 2001X (ELECTROGLAS/EG 2001X) 는 반도체 업계의 최고 품질을 보장하기 위해 설계된 고성능 프로브 장비입니다. 프로버 (Prober) 는 회로 테스트 및 검사 과정을 자동화하여 매우 정확하고 안정적인 결과를 제공하도록 설계되었습니다. EG 2001 X는 다양한 웨이퍼 및 패키지 구성 (예: 플립 칩) 이나 수많은 솔더 볼이있는 복잡한 회로로 회로를 조사 할 수 있습니다. 또한 여러 핀을 동시에 테스트할 수도 있으며, 구성 요소를 자동으로 최상위 레이어에 매핑할 수도 있습니다. 프로버 (Prober) 는 특허 기술 및 알고리즘을 사용하여 조사 중 더 높은 수준의 정확성과 반복 성을 달성합니다. 프로버는 또한 오정 (misalignment), 클램핑 (clamping) 문제 및 압력 변형을 자동으로 보상하여 프로세스 중 인간 오류의 가능성을 최소화 할 수 있습니다. Prober의 고급 제어 (Advanced Control) 기술은 x 축과 y 축 모두에서 Probe 위치를 자동화하거나 수동으로 재정의하여 Probing 프로세스를 정확하게 제어할 수 있습니다. 또한 wafer level calibration, scan alignment analysis, constant fixation 등 다양한 기능이 향상되었습니다. 프로버는 또한 잼 (jam) 이나 프로브 충돌 시 자동 차단, 자동 재설정 (auto-reset), 초과 여행 모니터 (over-travel monitor) 및 온도보상기 (integrated temperature compensation machine) 를 포함하여 신뢰할 수있는 장치 안전 기능을 제공합니다. 이 검사는 또한 누출 전류로 인한 전기 손상 위험을 최소화하는 내장 EMI (electromagnetic interference) 필터를 갖추고 있습니다. ELECTROGLAS EG2001X는 압력, 온도 및 진동 감지기를 포함하는 내장 모니터링 도구를 갖추고 있습니다. 이를 통해 자산 정확도가 향상되고 향후 참조를 위해 프로브에서 수집한 데이터를 저장할 수 있습니다 (영문). 또한, 이 검사는 DTS (Digital Test Systems), 저렴한 테스트 처리기, 배치 프로세스 시스템 등 다른 여러 시스템과 통합될 수 있습니다. 전반적으로, EG prober EG 2001X는 최고 수준의 정확성과 반복 성을 제공하도록 설계된, 고급적이고 신뢰할 수있는 프로빙 모델입니다. 다목적 디자인과 강력한 기능으로, 장비는 신뢰성 있고 효율적인 프로버를 찾는 모든 사람에게 적합한 선택입니다 (영문).