판매용 중고 ELECTROGLAS / EG 2001X #293758536

ELECTROGLAS/EG 2001X는 고밀도, 고속 복합 웨이퍼 프로브에서 빠르고 안정적인 성능을 제공하도록 설계된 웨이퍼 프로브 장비입니다. 이 프로버는 직경이 최대 200mm (7.87 ") 인 웨이퍼를 20 미크론 정확도로 조사 할 수 있습니다. 자동 사이트 인식 (Automated Site Recognition), 광범위한 웨이퍼 매핑 (Wafer Mapping), 자동 정렬 (Automatic Alignment) 과 같은 고급 기능을 사용하여 모든 아키텍처 설계의 웨이퍼를 정확하게 조사합니다. 자동 사이트 인식 기능 (Automated Site Recognition Feature) 을 사용하면 Wafer 의 각 회로 사이트를 식별할 수 있으며, 사이트 주소가 보이지 않는 경우에도 Tool을 통해 사이트를 정확하게 찾을 수 있습니다. 웨이퍼 매핑 (wafer mapping) 기능은 시각적 표시 없이 접촉 대상을 찾는 데 도움이 되며, 자동 정렬 (automated alignment) 기능을 통해 콘택터를 웨이퍼의 대상에 정확하게 정렬할 수 있습니다. EG 2001 X는 디지털 프로빙 일정, 멀티 사이트 및 다기능 다이빙 머신과 인터페이스 할 수 있습니다. ELECTROGLAS EG2001X의 혁신적인 컨트롤러 설계는 모든 유형의 웨이퍼에서 향상된 정확도, 처리량, 신뢰성을 제공합니다. 이중 기계화 된 XY 축으로 작동하여 가장 복잡한 테스트 계획 (Test Plan) 에 대한 빠른 처리량을 달성합니다. 다중 축 컨트롤러는 웨이퍼 매핑 (wafer mapping) 및 테스트 사이트 주소 지정을 위해 이중 동시 모션을 지원하며, 전반적인 기능이 크게 향상됩니다. 고속 디지털 아키텍처를 활용하여 신속한 데이터 처리를 지원합니다. 이 시스템은 또한 고급 소프트웨어 패키지 (advanced software package) 를 제공하여 특정 요구 사항에 따라 Probe 작업을 사용자 정의할 수 있습니다. ELECTROGLAS/EG EG2001X는 수동 및 로봇 프로브 작업을위한 다양한 버전 (예: 로봇 작동을위한 프로그래밍 가능한 멀티 축 컨트롤러, 수동 프로브 컨트롤러) 을 제공합니다. 또한이 도구는 작업 및 프로그래밍을 위해 사용자에게 친숙한 인터페이스를 제공합니다. 운영자 스테이션은 자산을 제어하는 직관적인 그래픽 사용자 인터페이스를 제공합니다. 사용자 정의 가능한 Probe 제어 옵션을 사용하면 작업별로 가장 효율적인 방법을 선택할 수 있습니다. 또한 외부 PC 측정 시스템과 통합하여 정확도와 속도를 높일 수 있습니다. ELECTROGLAS/EG 2001 X는 반도체 기술의 까다로운 요구를 충족하도록 설계된 고성능 전문가입니다. 다양한 wafer Probing 요구 사항에 대해 안정적이고, 정확하며, 빠른 Probing 작업을 제공합니다. 이 제품은 회로 패턴 프로브를 제어하는 데 효과적이고 효율적인 도구이며, 다양한 웨이퍼 프로브 (wafer probing) 응용 프로그램에 이상적인 솔루션으로 사용됩니다.