판매용 중고 ELECTROGLAS / EG 2001X #293604676

ELECTROGLAS/EG 2001X (ELECTROGLAS/EG 2001X) 는 테스트 장치의 자동 마이크로 포지셔닝을 제공하여 전기 매개변수를 측정 할 수 있도록 설계된 전문가입니다. 가동 가능한 플랫폼, 진공 튜브 및 높은 정확성과 반복 성을 갖춘 독점 컨트롤러 시스템으로 구성된 특허를받은 EVA (Electro-Vacuum Automation) 장비를 기반으로합니다. 프로브 스테이션 (Probe Station) 에는 단일 (single-by-one) 배열이나 더 큰 테스트 구조의 경우 더 큰 봉투 (envelope) 와 같은 다양한 요구에 맞게 구성할 수 있는 모듈식 섀시가 있습니다. 접촉, 비접촉, 정전식, RF 및 볼 프로브 팁 스타일을 포함한 다양한 측정 헤드를 통해 소규모 전자 장치 매개변수를 정확하게 측정할 수 있습니다. EG 2001 X는 BGA, QFN, DIP, 패키지 및 이산 구성 요소와 같은 일반적인 장치 유형을 처리 할 수있는 고급 진공 장치를 갖추고 있습니다. 진공관에는 진공 당 (per-vacuum) 과 압력을 세밀하게 조정하여 장치 접촉에 대한 최적의 프로브를 얻는 이중 진공 물개 (dual vacuum seal) 가 장착되어 있습니다. 진공 흐름은 특정 장치 유형에 맞게 조정될 수도 있습니다. 로봇 컨트롤러 머신 (Robotic Controller Machine) 은 테스트 주기 시간을 단축하기 위해 특별히 설계된 자동 매크로 (Macro) 및 사용자 정의 시퀀스 (User-Defined Sequence) 호스트로 설계되었으며, 고급 머신 비전 (Machine Vision) 도구를 사용하여 에셋이 잘못된 정렬을 보정하도록 자동으로 조정할 수 있습니다. 사용되는 고급 모터 모델을 사용하면 빠른 공구 변경 및 정확한 위치를 지정할 수 있습니다. 컨트롤러 및 소프트웨어 장비는 다양한 측정 기능을 제공합니다. 테스트 매개변수는 사용자 정의 라이브러리에 표시, 모니터링, 저장, 검색하여 쉽고 반복적으로 액세스할 수 있습니다. 종합적인 분석 기능에는 수율 분석, 위치 매핑, 고품질 분석 데이터 제공 추세 플로팅 등이 있습니다. 결론적으로, ELECTROGLAS EG2001X 프로버는 높은 생산성을 제공하는 신뢰성, 높은 정확성, 고급 자동 도구입니다. 탁월한 인체공학, 비용 효율성 및 고급 유연한 자동화 기능을 갖추고 있습니다. 자동 IC 장치 측정 평가 환경에 필수입니다.