판매용 중고 ELECTROGLAS / EG 2001X #293604675

ELECTROGLAS/EG 2001X Prober는 반도체 제조에 사용하도록 설계된 고급 웨이퍼 테스트 기기입니다. 실리콘, 갈륨 비소, SOI 등 다양한 웨이퍼 유형에 대한 진단 조사, 검사 및 수행 할 수 있습니다. 이 프로버는 자동 패들 로딩 장비를 갖추고 있으며, 웨이퍼 캐리어에 최대 10 개의 패들이 동시에 로드되어 있습니다. 이 시스템은 프로버 (Prober) 에 웨이퍼를 배치하는 데 필요한 시간을 최소화하고 개별 프로브 작업 (Probe Operation) 동안 최소한의 중단을 허용합니다. 기계의 낮은 가속 및 낮은 프레임 진동 (low frame vibration) 은 섬세한 장치의 손상을 방지하고 위치 이동을 줄입니다. EG 2001 X는 9 축 동작 장치를 사용하며, 이는 최대 300mm/s의 속도로 고정밀 동작 프로파일과 속도를 제공 할 수 있습니다. 프로버는 또한 Z축 리프트 (Z축 리프트) 로 지형을 협상 할 수 있으며, 이는 웨이퍼 로딩 시간을 줄이며, 보다 정확한 웨이퍼 배치를 제공합니다. 상용 등급 광학 기계 (Commercial Grade Optical Machine) 는 각 바늘에 대한 사용자 정렬 제어 및 각 바늘에 대한 조정 가능한 전기 연결 (Electrical Connection) 을 제공 할 수 있습니다. 이를 통해 전자 부품의 테스트 패드에 정확하고 안정적으로 연결할 수 있습니다. 프로버 (Prober) 는 정렬 오프셋 (Alignment Offset) 및 바늘 팁 (Needle Tip) 보정을 포함한 다양한 보정 기능과 동시에 여러 채널의 프로브를 동기화하는 기능을 제공합니다. 가변 확대 (Variable Magnification) 기능을 통해 사용자는 신호 대 노이즈 비율이 향상되어 장치 정렬을 정확하게 보고 모니터링할 수 있으므로 Prober의 성능을 향상시킬 수 있습니다. 이 프로버는 GPIB, 이더넷, SVGAM 등 다양한 연결 및 데이터 전송 기능을 갖추고 있으며, 고속 데이터 전송과 반도체 구성 제어 시스템과의 최대 호환성을 제공합니다. 또한 ELECTROGLAS EG2001X (ELECTROGLAS EG2001X) 는 프로그램 및 데이터 백업 기능도 제공하며, 이를 통해 사용자는 전원 차단 후에도 모든 테스트 데이터를 안전하게 복구할 수 있습니다. 고급 모션 및 연결 기능과 함께 광범위한 테스트 기능을 통해 ELECTROGLAS/EG 2001 X (ELECTROGLAS/EG 2001 X) 는 효율적인 반도체 장치 테스트에 필수적인 도구가됩니다.