판매용 중고 ELECTROGLAS / EG 2001X #186974
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ID: 186974
Prober
Prom based. Software 249799.001.CH
Auto load
Auto align
NCES rocker style Profiler
PRM-2 vision system.
Microscope, 4X zoom
Monitor. Good condition. No screen burn in
Probe card holder. Set up for 4.5" probecards.
PZ5 Z stage
Standard 6" EG chuck
High table.
ELECTROGLAS/EG 2001X는 EG에서 제조 한 2000X 프로버 제품군의 네트워크 디지털 프로버입니다. EG 2001 X는 현대 고밀도 반도체 테스트의 요구를 위해 개발되었으며, 고속 프로브 및 자동 테스트 시뮬레이션을위한 다양한 기능을 자랑합니다. ELECTROGLAS EG2001X는 풀 스캔 및 자동화 시스템에서 4 미크론의 X-Y 정확도를 갖춘 고정밀 프로빙 기능을 제공합니다. 4 방향 양방향 크로스 롤러 슬라이드와 컴팩트형 공기 베어링 (compact compact air bearing) 이 장착되어 경쟁사와 비교할 때 프로브 위치의 정확성을 향상시킵니다. 또한 2001X 는 다양한 통합 요구 사항에 대한 광범위한 오거 (auger) 및 광 정렬 기술을 갖추고 있습니다. EG2001X는 다양한 교정 문제를 해결하기위한 자동 교정 시스템을 갖추고 있습니다. 여기에는 자동 시작 및 끝 경계 스캐닝 (automatic start and end boundary scanning) 및 실내 자동 벤딩 (in-chamber automatic bending) 이 포함됩니다. ELECTROGLAS/EG 2001 X에 대한 모든 검사 작업은 60dB의 음향 캡핑 노이즈 감소로 압력으로 수행 될 수 있습니다. 이 시스템은 다양한 온도, 습도 범위에 걸쳐 작동하며 에너지 효율 (energy efficient) 으로 설계되었습니다. 2001 X 는 유연한 아키텍처 (architecture) 로 설계되어, 진화하는 테스트 요구에 따라 확장할 수 있습니다. 여러 전기, 광, 디지털 액세스 인터페이스를 지원하며 ATE 테스터, 자동화 시스템과 신속하게 통합할 수 있습니다. 디버그 및 문제 해결을 단순화하기 위해 EG EG2001X에는 데이터 분석용 시각 형상 도구가 내장되어 있습니다. ELECTROGLAS/EG EG2001X는 현대 반도체 테스트 시스템에 완벽한 전문가입니다. 가장 복잡한 설계를 빠르고 정확하게 테스트하는 데 필요한 기능, 정확성, 유연성을 제공합니다. ELECTROGLAS 2001 X는 현재 및 향후 테스트 요구를 해결하는 신뢰할 수 있는 고정밀 상용 패키지입니다.
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