판매용 중고 ELECTROGLAS / EG 2001X #186037
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ID: 186037
웨이퍼 크기: 6"
Prober, 6", upgraded
Material Handler: Belt Track
Capacity: 25 6” Wafers
System Software: Prober Vision 249799-001.CE EPROM Based
Auto Align Model: Cognex 2-Meg
Auto Align Software: Revision DK
Auto Align Camera: Cohu
Chuck Top: 6-inch Gold Ambient
Microscope: Olympus 99 with Fluorescent Illuminator
Ring Carrier: RC-2
Ring Insert: Standard 6-inch
NCES Sensor: Piston
Z-Stage: PZ-150 0.50-mil
Monitor: 9-inch Black and White
Table: High Profile
A4 communications board
Requirements:
Power: 115 VAC
Air: 80 PSI
Vacuum: 18” – 24” Hg.
ELECTROGLAS/EG 2001X 프로버는 웨이퍼 프로브에 사용되는 비용 효율적이고, 안정적이며, 강력한 도구입니다. 정밀 웨이퍼 테이블 링, 이동 및 조작을 허용하는 다중 축 (multi-axis) 모터 플랫폼 구동 장비를 갖춘 완벽한 기능, 자동 프로버입니다. 이 시스템은 40 위치 자동 일치 장치를 갖춘 컴퓨터 제어 정밀 검사 전문가입니다. 이 일치 머신은 최대 200mm 웨이퍼를 지원하며, 최대 속도로 웨이퍼를 로드 및 언로드할 수도 있습니다. 도구 디버깅의 경우, Probe는 많은 장치 및 시스템에 대한 직접 인터페이스를 허용합니다. 간편한 운영 및 디버그 평가를 위한 직관적인 Windows 기반 GUI가 있습니다. 이 프로버 (Prober) 에는 전기 기계 설계 기능이 있으며, 이는 장기 제품에서 반복 가능한 뛰어난 성능을 제공합니다. 이 프로브는 또한 디지털 비디오 이미징 기능을 갖춘 신뢰할 수있는 전자 에지 감지 (electronic edge detection) 자산을 가지고 있습니다. 이를 통해 웨이퍼에 대한 빠르고 정확한 정렬 및 프로브 도금이 가능합니다. 프로브는 단일 사이트 및 다중 사이트 프로브 응용 프로그램 (single-site probing application) 과 각 신호에 대한 디지털 타임 스탬프로 여러 신호를 측정하는 데 사용될 수 있습니다. 고속 충전 저전압 (Low-Voltage) 프로빙 기능은 고급 기술 노드에 적합하며 고속 I/O 신호를 자동으로 샘플링하는 데 적합합니다. 프로브에는 강력한 C 소프트웨어 API가 포함되어 있으며, 이를 통해 사용자는 사용자 정의 프로브 알고리즘을 개발하고 자체 테스트 구조를 설계 할 수 있습니다. 또한 고급 프로브 알고리즘 라이브러리 (Library of advanced Probing Algorithm) 가 포함되어 있어 Probe가 쉽고 빠르며 정확합니다. EG 2001 X prober는 빠르고 정확한 프로브 디커플링 및 자체 무결성 테스트를 위해 설계되었습니다. 이 Prober는 웨이퍼 프로브 (Wafer Probe) 및 이동식 Probe 카드에 대해 자동화된 제작, 테스트 및 특성을 제공하며, 이를 통해 자동 소켓팅이 가능하며, 다용도를 높이고 운영 비용을 절감할 수 있습니다.
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