판매용 중고 ELECTROGLAS / EG 2001X #152201

ELECTROGLAS/EG 2001X Prober는 웨이퍼 및 패키지 수준에서 반도체 장치를 테스트하고 디버깅하는 데 사용되는 혁신적인 도구입니다. 이 플랫폼은 고속 측정과 다양한 IC 및 컴포넌트의 정확한 특성을 제공하는 고정밀 (high-precision) 플랫폼입니다. 이 프로버는 자동화된 정렬 장비를 갖추고 있으며, 사용자에게 웨이퍼의 모든 각도 또는 위치에서 다양한 IC 및 부품 (예: 트랜지스터, 칩, 저항, 커패시터) 을 조사할 수있는 유연성을 제공합니다. 또한 사용자는 Probe 카드를 통해 장치를 연결할 수 있습니다. EG 2001 X 는 견고한 기능과 모듈식 아키텍처로 설계되어, 먼지, 습도 등 환경 요인으로부터 탁월한 보호 기능을 제공합니다. 프로버 (Prober) 는 또한 프로빙 카드의 정확하고 반복 가능한 이동을위한 고속 서보 모터 시스템을 갖추고 있습니다. 최적의 정확성을 보장하기 위해 프로버 (Prober) 는 내장 온도 조절 장치 및 실시간 온도 보상 장치 (Real Time, Temperature Compensation Unit) 도 갖추고 있습니다. 이 온도 조절 장치 (Temperature control mechanism) 는 기계를 보정하고 측정값이 각 및 모든 측정값에 대해 동일한 온도 (temperature) 로 유지되도록 도와줍니다. 프로버 (Prober) 에는 테스트 데이터를 손쉽게 캡처하고 분석할 수 있는 다양한 소프트웨어 애플리케이션 (Software Application) 이 포함되어 있어 테스트된 디바이스에 대한 이해도를 높일 수 있습니다. 이 데이터는 문제를 파악하고 최적화된 솔루션을 개발하는 데 더 사용될 수 있습니다. 또한, 프로버 (Prober) 에는 다양한 결과의 비교와 테스트된 장치와 관련된 새로운 정보의 공개를 촉진하는 포괄적인 보고 도구 (Reporting Tools) 가 제공됩니다. 전반적으로 ELECTROGLAS EG2001X 프로버는 사용자에게 다양한 IC 및 구성 요소를 테스트하고 디버깅하기 위해 안정적이고 효율적인 플랫폼을 제공합니다. 고정밀 기술은 정확한 측정을 보장하며, 내장 온도 조절 장치는 안정적이고 반복 가능한 테스트를 보장합니다. ELECTROGLAS 2001 X (ELECTROGLAS 2001 X) 는 강력한 소프트웨어 애플리케이션과 보고 툴을 통해 다양한 데이터를 캡처할 수 있으며, 문제를 파악하고 최적화된 솔루션을 개발하는 데 필요한 유연성을 제공합니다.