판매용 중고 ELECTROGLAS / EG 2001CX #9395832

ELECTROGLAS/EG 2001CX는 반도체 생산에 사용되는 초고해상도 전문가입니다. 특히 웨이퍼 프로브를 위해 설계된 EG 2001CX는 특허받은 신호 체인 기술을 통해 정확하고 정확성을 제공합니다. 이를 통해 칩에서 가장 복잡하고 민감한 구조를 측정 할 수 있으며, 설계를 통해 여러 칩 디자인 (chip design) 에 걸친 프로브 (probing) 의 정확도를 극대화할 수 있습니다. ELECTROGLAS 2001 CX의 다른 아키텍처 기능에는 여러 기능 요구 사항을 충족하는 설계가있는 단일, 다중 축 구조가 포함됩니다. 여기에는 두 개의 손목 관절, 완전히 제어 된 전동 전사 구조 및 통합 XYZ 드라이브 시스템이 포함됩니다. 프로버 (Prober) 는 또한 선택적 발 이동 단계를 특징으로하여 시스템 내에서 정확한 웨이퍼 배치를 가능하게합니다. 프로버 (Prober) 에는 다양한 동작 및 정렬이 내장되어 있습니다. 즉, 추가 비품이나 정밀 기계가 없어도 테스트되는 부품의 정확한 사양에 맞게 조정할 수 있습니다. 광학 현미경, X- 선 단층 촬영, Variable Pressure Scanning Electron Microscope 및 Ion Beam Imaging과 같은 최첨단 측정 기술을 통해 빠른 설정과 웨이퍼 데이터에 쉽게 액세스 할 수 있습니다. 고속 웨이퍼 인프라를 통해 2001 CX는 델타 방위각 변위 (delta azimuth angular displacement) 에서 스캔 시간 단축 (scan time reduction) 에 이르는 다양한 옵션으로 초고속 웨이퍼 프로브를 할 수 있습니다. ELECTROGLAS 2001CX (ELECTROGLAS 2001CX) 는 또한 파형 스무딩 기술을 사용하여 진동을 손상시키는 저소음 설계를 자랑합니다. 최적화된 설계로 환경 소음을 최소화하여 반복 가능한 고품질 결과를 얻을 수 있습니다. 프로브는 또한 접촉 (Contact) 및 비 접촉 (Non-Contact) 프로브에 최적화되었으며, 저력 기능으로 섬세한 프로브 작업에 이상적입니다. 요컨대, ELECTROGLAS/EG 2001 CX는 반도체 웨이퍼를 빠르고 정확하게 조사 할 수있는 혁신적인 증명 설계입니다. 저효율 (low-force) 및 저소음 (low-noise) 기능은 정확하고 반복 가능한 결과를 보장하며, 동작 및 정렬 범위는 가장 까다로운 Probing 작업에도 적합합니다.