판매용 중고 ELECTROGLAS / EG 2001CX #9243023
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ID: 9243023
빈티지: 2000
Prober
Microscope arm
OLYMPUS Low power scope
Chuck type: Gold chuck top, 6"
Ring carrier type: Rectangular probe card holder without holder
Vision module type: COGNEX Auto align-PRM 2
Auto align: CCD Camera
Table type: PT-201 High boy table
Hot chuck
Monitor type: LCD
Operator console
Monitor console
Inker / Edge sensor box
NCES Profiler
Material handling
2000 vintage.
ELECTROGLAS/EG 2001CX는 반도체 산업에서 상업적으로 사용하기 위해 EG Corporation이 개발 한 고급 전문가입니다. 고속, 자동 웨이퍼, 다이, 특히 소형 형상 또는 저전력 어플리케이션을 위해 설계되었습니다. 1 미크론의 정확도로 초당 최대 1400 핀을 조사 할 수 있습니다. 프로버 (Prober) 는 일련의 고급 광학, 전기 및 기계 부품을 사용하여 집적 회로 칩에서 테스트 회로의 전기 특성을 정확하게 측정하고 특성화합니다. EG 2001CX prober에는 고속 테스트에 적합한 다양한 중요한 기능이 있습니다. 첫째, 자동 XYZ 포지셔닝 장비와 멀티 포지션 웨이퍼 핸들러 (Multi-position Wafer Handler) 를 통해 처리량을 높일 수 있습니다. 프로버 (Prober) 에는 고속 컴퓨터 제어 웨이퍼 스테이지가 장착되어 있어 웨이퍼를 정확하고 반복적으로 정렬하고 하중 보드에 다이 (Die) 할 수 있습니다. 또한 ELECTROGLAS 2001 CX Prober는 레이저 다이오드 정렬 장치 (Laser Diode Alignment Unit) 와 다이 및 패턴 인식을위한 통합 비전 머신 (Integrated Vision Machine) 을 갖춘 고급 광학 시스템을 갖추고 있습니다. ELECTROGLAS 2001CX 프로버는 자동 XYZ 포지셔닝 및 웨이퍼 처리 외에도 접촉 저항 및 커패시턴스의 정밀 측정을 수행 할 수 있습니다. 이 제품은 12 비트 해상도의 컴퓨터 제어 신호 프로세서 (computer controlled signal processor) 와 더 쉽고 정확한 측정이 가능한 다기능 인터페이스 칩 (multifunctional interface chip) 을 갖추고 있습니다. 프로세서에는 누출 전류 및 일시성을 포함한 수많은 측정 모드가 있습니다. EG 2001 CX prober의 고급 특성을 통해 극도로 정밀하게 구성 요소와 칩을 조사 할 수 있습니다. 2001 CX Prober는 다양한 환경과 어플리케이션에서 안정적으로 작동하도록 설계되었습니다. 작동 온도 범위는 섭씨 0 ~ 50 도이며 24/7 작동하기에 충분히 견고하도록 설계되었습니다. 또한, 프로버 (Prober) 에는 긴급 종료 스위치 내장 (Emergency Shown Down Switch) 및 Prober의 우발적 활성화를 방지하는 안전 잠금 스위치 (Safety Lock Switch) 를 포함한 다양한 안전 기능이 장착되어 있습니다. 전반적으로, 2001CX prober는 집적 회로의 테스트 및 특성화를위한 고도의 상용 도구입니다. XYZ 포지셔닝, 웨이퍼 처리 (wafer handling), 고급 광학 컴포넌트, 정밀 측정 기능 등을 자동화하여 소형 기하학 및 저전력 어플리케이션을 테스트하는 데 적합합니다. 또한 견고한 설계로 다양한 작업 환경에서 안정적으로 작동할 수 있습니다.
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