판매용 중고 ELECTROGLAS / EG 2001 #293659202

ELECTROGLAS/EG 2001 Prober는 주로 IC (반도체 집적 회로) 테스트를 위해 설계된 전문 도구입니다. 반도체 회사에서 웨이퍼 테스트 구조 및 IC를 수동으로 조사하는 데 사용됩니다. 이 장치는 정밀 웨이퍼 처리 장치 (precision wafer handling equips) 와 직관적이고 다중 축 조절 가능한 프로브 헤드 (probe head) 를 결합하여 수동 및 자동 테스트 모두에 적합합니다. EG 2001 Prober는 모두 안정적인 플랫폼에 장착 된 기본 유닛, 수직 프로브 헤드 (Vertical Probe Head) 및 수평 프로브 헤드 (Horizontal Probe Head) 로 구성됩니다. 베이스 유닛에는 기본 전자 장치 (electronics) 와 서보 모터 (servo motor) 가 포함되어 있어 프로브 헤드의 수직 및 수평 동작을 제어합니다. Probe 헤드는 다양한 Probe 카드를 시스템에 로드할 수 있도록 몇 가지 조정 가능한 Contact 로 구성됩니다. 각 프로브 카드 (Probe Card) 에는 IC의 정확한 프로브를 위해 미세하게 각도 인 사전 로드 된 프로브 세트가 포함되어 있습니다. 수직 및 수평 Probe 카드는 각각 기본 장치의 컨트롤러에 의해 구동됩니다. 각 컨트롤러에는 수동 (manual) 및 자동 (automatic) 의 두 가지 모드가 있으며, 수동 또는 자동 IC 프로브를 사용할 수 있습니다. 수동 모드에서 운영자는 프로브 헤드의 수직 (vertical) 및 수평 (horizontal) 축을 조정하여 수동 방식으로 온-웨이퍼 (on-wafer) 테스트 포인트에 액세스할 수 있습니다. 자동 (automatic) 모드에서 연산자는 각 IC를 조사 할 때 장치에 대한 명령 세트를 프로그래밍할 수 있습니다. ELECTROGLAS 2001 Prober에는 터치 스크린 인터페이스 (Touchscreen Interface) 가 장착되어 있으며, 이 인터페이스는 IC와 접촉하면서 프로브에 대한 시각적 피드백을 제공합니다. 또한 이 시스템에는 Prober의 상태 및 지표를 원격 모니터링할 수 있는 엔터프라이즈급 소프트웨어 (Enterprise Level Software) 패키지가 있습니다. 이 기능을 사용하면 엔지니어가 테스트 매개변수를 원격으로 수정하여 시간과 노력을 절감할 수 있습니다. 전반적으로, 2001 prober는 신뢰할 수 있고 정확한 Probe 테스트 스테이션을 찾는 반도체 회사에 이상적인 솔루션입니다. 이 장치는 조정 가능한 Probe Contact, TouchScreen Interface 및 정교한 소프트웨어와 Precision Wafer Handling Tool을 결합하여 운영자가 IC 문제를 신속하고 정확하게 해결할 수 있도록 합니다. 이 직관적인 장치는 연산자의 노력을 최소화하면서 웨이퍼 프로브 (wafer probing) 작업을 최적화할 수 있습니다.