판매용 중고 ELECTROGLAS / EG 1034XA-6 #9350552

ELECTROGLAS/EG 1034XA-6은 집적 회로 장치의 고급 특성 및 프로브를 위해 설계된 반도체 프로버입니다. 이 프로버 (Prober) 는 모든 반도체 제품 개발 또는 제조 공정에 사용하기에 적합하며, 테스트 결과에서 정확성과 반복성을 제공합니다. 프로버 (Prober) 는 독특한 정전기 척 (electrostatic chuck) 장비를 특징으로하며, 기계적 정렬이 필요 없이 척에 샘플을 배치 할 수 있습니다. 이 시스템은 또한 조정 가능한 해상도 (Adjustable Resolution) 를 제공하여 샘플 배치에서 정밀한 수준의 정렬 및 정확성을 허용합니다. 이 장치는 큰 6 인치 x 6 인치 프로빙 영역을 제공하며, 이를 통해 한 번에 여러 개의 다이를 테스트 할 수 있습니다. 고급 비전 머신 (advanced vision machine) 이 도구에 통합되어 샘플에 테스트-프로브를 정확하게 정렬 할 수 있습니다. 프로버는 또한 최대 프로빙 속도가 200MHz 인 테스트 데이터를 빠른 속도로 전달합니다. 통합 소프트웨어 (Integrated Software) 는 시스템의 모든 측면을 제어하며, 특정 요구 사항과 테스트 요구 사항에 따라 설정을 사용자 정의할 수 있습니다. 자동화된 프로브 리프터 (Probe-lifter) 자산도 프로버에 통합되어 모델의 안전하고 효율적인 작동이 가능합니다. 이 장비는 또한 전원 제한, 정적 제어, ESD 보호 시스템 (ESD Protection System) 과 같은 적절한 작동 및 정확성을 보장하는 여러 가지 안전 기능을 갖추고 있습니다. 또한, 이 장치는 프로브 시 발생하는 소음의 양을 줄이고, 테스트 결과의 정확성을 보장하도록 설계되었습니다. 프로버 (Prober) 는 또한 Seasy 설치 및 유지 보수를 제공하며, 모든 부품에 쉽게 접근하고 교체할 수 있습니다. 이 기계는 Probing 기능 외에도 고급 웨이퍼 처리 (Wafer Handling) 및 웨이퍼 캐리어 제어 (Wafer Carrier Control) 기능을 제공하여 일관되고 반복 가능한 테스트 결과를 제공합니다. 이 툴에는 마이크로프로세싱 (microprocessing) 기능이 포함되어 있으므로 실시간으로 결과를 분석하고 표시할 수 있습니다. 다중 프로세싱 및 여러 전원 공급 장치를 통해 수많은 동시 프로브 작업을 수행할 수 있습니다. EG 1034XA6 프로버 (Prober) 는 반도체 특성 및 프로브를위한 고급 솔루션으로, 테스트에서 정밀한 정확성과 반복 성을 제공합니다. 여러 가지 안전 기능, 고속 테스트 데이터 전달, 웨이퍼 (wafer) 처리 기능, 마이크로프로세싱 (microprocessing) 기능을 갖춘 이 검사는 모든 반도체 제조 공정에 귀중한 추가 기능을 제공합니다.