판매용 중고 ELECTROGLAS / EG 1034XA-6 #9097866

ELECTROGLAS/EG 1034XA-6 Prober는 고밀도 반도체 웨이퍼 재료를 처리 할 때 극도의 정확성과 유연성을 제공하도록 설계된 고급형 다목적 Prober 장비입니다. EG 1034XA6 Prober는 시간당 최대 760 개의 웨이퍼를 테스트 할 수 있으며 특허를받은 고급 Wafertree6 라우팅 어레이 웨이퍼 처리 시스템으로 설계되었습니다. 이 혁신적인 라우팅 어레이 장치를 사용하면 ELECTROGLAS 1034X-A6 프로버 (Prober) 가 매우 정확하고 빠른 속도로 웨이퍼의 여러 접점 (contact point) 을 정확하게 측정할 수 있습니다. 다른 웨이퍼 프로버와는 달리, 1034XA6 Prober에는 4 개의 조정 가능한 셔틀 썰매와 모든 크기의 웨이퍼를 수용 할 수있는 셔틀 썰매 레벨러가있는 조정 가능한 로딩 챔버가 있습니다. 프로버에는 정밀 웨이퍼 프로브 카드 측정 스테이션 (precision wafer probe card measuring station) 이 포함되어 있어 최고의 정확도로 최대 800 개의 접점 (contact point) 을 동시에 측정 할 수 있습니다. EG 1034XA-6 Prober에는 로터 장착 웨이퍼 척 (wafer chuck) 과 모든 작업을 원격 제어하기위한 이더넷 (Ethernet) 링크가 포함되어 있습니다. 탁월한 안정성을 위해 설계된 EG 1034X-A6 Prober는 최신 웨이퍼 처리 기술로 설계되었으며, 최대 12인치 직경의 웨이퍼를 처리할 수 있습니다. 프로버 (Prober) 는 또한 정교한 전략 편집기 (Strategy Editor) 를 통해 사용자가 규칙 기반 작업을 프로그래밍할 수 있으며, 이를 통해 기계가 수집 한 데이터를 기반으로 결정을 내릴 수 있습니다. 또한, ELECTROGLAS 1034 XA-6 Prober는 복잡한 웨이퍼 패턴을 처리 할 때 심각한 오류를 방지하는 정교한 백스텝핑 기능을 갖추고 있습니다. 또한 1034 XA-6 Prober에는 광학 결함 매핑, 시간 추정, 열 매핑 도구 등 다양한 진단 기능이 포함되어 있어 잠재 웨이퍼 문제를 파악할 수 있습니다. 프로버 (Prober) 에는 탐사시 최고 수준의 청결을 보장하기위한 초음파 청소 시설도 포함되어 있습니다. 마지막으로, ELECTROGLAS/EG 1034 XA-6 Prober에는 다양한 자동 성능 검사가 제공되어 결과의 정확성을 쉽게 평가하고 확인할 수 있습니다. ELECTROGLAS/EG 1034 XA 6 Prober는 고밀도 반도체 웨이퍼 재료를 처리 할 때 극도의 정밀도를 제공하도록 설계된 매우 발전된 기계입니다. 조정 가능한 로딩 챔버, 정밀 웨이퍼 Probe 카드 측정 스테이션, 고급 Wafertree6 라우팅 어레이, Ultrasonic 클리닝 기능 및 다양한 자동 성능 점검 기능을 갖춘 ELECTROGLAS/EG 1034XA6 Prober는 다양한 정확도를 테스트하고 측정하는 데 완벽한 솔루션입니다.