판매용 중고 ELECTROGLAS 5300e #200853

일렉트로 글라스 5300e (ELECTROGLAS 5300e) 는 집적 회로 부품의 전기 테스트에 사용되는 전문성, 정밀 테스트 도구입니다. 이 제품은 고급 반도체 장치의 높은 정확도 (high-accuracy), 고속 (high-speed) 프로브 (probing) 를 위해 설계되었습니다. 5300e는 wafer bump probing, device characterization, 결함 분석, 밀도 높은 어레이의 전기 테스트, 고장 분석 등의 기능을 제공 할 수 있습니다. 프로버 (Prober) 는 최첨단 현미경을 갖추고 있으며, 이를 통해 운영자는 반도체 소자의 극히 작은 연결을 명확하게 볼 수 있습니다. ELECTROGLAS 5300e는 2 단계 저소음 스테퍼 모터 드라이브가 장착 된 고속 마이크로 포지셔너입니다. 마이크로 포지셔닝 정확성과 반복성은 1mm 이동의 경우 1jm 이내입니다. 또한 저용량/저용량 (low volume )/저밀도 (low probe) 응용프로그램을 위한 더욱 뛰어난 정확성을 제공하도록 설계되었습니다. 마이크로 포지셔너 (micro-positioner) 는 정전식, 기계식 및 광학 센서를 포함한 여러 센서 유형을 지원하며, 광범위한 Probe 카드와 Prober 구성을 지원합니다. 5300e는 이중 독립형 z 축을 포함하여 소프트웨어 제어 XYZ 스테이지 (Fully Software-controlled XYZ Stage) 를 갖추고 있으며, 이는 비대칭 웨이퍼 레벨 및 컴포넌트를 대상으로 사용할 수 있습니다. 두 Z축 단계에는 백래시 너트 방지 (Anti-Backlash Nut) 어셈블리가 있어 위치 정밀도가 우수합니다. 3 구역 온도 시스템은 활성 (active) 및 비활성 (inactive) 영역이 정밀하고 일관된 온도에서 유지되도록 보장하는 한편, 과열을 방지하여 긴 표본 수명을 보장합니다. 이 프로버에는 자동 이젝터, 패스 스루 메커니즘, 카세트, 정밀 로딩 지그 등 다양한 웨이퍼 처리 시스템이 장착되어 있습니다. ELECTROGLAS 5300e에는 4축, 4선 개방형 루프 스테핑 모터 및 닫힌 루프 모터 제어 장치 (closed-loop motor control unit) 가 포함되어 있어 정확하고 안정적인 장치 특성 측정을 위해 웨이퍼, 장치 및 기타 구성 요소의 정밀, 시간 및 반복 이동이 가능합니다. 이 기계는 또한 고속, 높은 정확도, 저전압 프로브 등 다양한 프로빙 모드를 지원합니다. 5300e 는 광범위한 데이터 분석/진단 툴을 제공하여, 가장 호환 가능하고 안정적인 결과를 제공합니다. ProLog (ProLog) 및 Badger View (Badger View) 와 같은 고급 소프트웨어 기능을 사용하면 디바이스의 성능 특성을 신속하게 분석할 수 있고, 테스트 실패와 디바이스 오작동을 지역화할 수 있습니다. Prober 데이터 관리 기능은 손쉬운 데이터 검색 및 Prober 스크립팅 제어 기능을 제공합니다. ELECTROGLAS 5300e (ELECTROGLAS 5300e) 는 먼지 및 액체 내성 케이스와 온도 조절 환경으로, 극한의 작동 환경에 견딜 수 있도록 설계되었습니다. 앙상블 (Ensemble) 의 솔리드 스테이트 릴레이 도구 (solid-state relay tool) 와 같은 통합 안전 시스템은 전기 장애로 인한 잠재적 위험을 방지합니다. 이 자산에는 교정 및 진단을 위한 고급 시점 도구 (Point-of-use tools) 와 기타 다양한 정교한 기능이 포함되어 있습니다. 5300e Prober는 탁월한 정확도, 안정성, 성능을 제공하여 고급 반도체 소자를 테스트하는 데 적합합니다.