판매용 중고 ELECTROGLAS 5300 #9083774

일렉트로 글라스 5300 (ELECTROGLAS 5300) 은 다양한 웨이퍼 프로브 및 전기 테스트 요구 사항에 사용할 수있는 고정밀 프로버입니다. 프로브 헤드로 2 개, 컨택트 암으로 2 개를 제공하는 4 개의 스테이션이 있습니다. 이 조합은 반도체 웨이퍼와 회로를 테스트할 때 높은 생산성과 유연성을 제공합니다. 5300 은 커패시턴스 (capacitance), 전류 전압 (current-voltage), 오마미터 (ohmmeter) 테스트, 장치 특성, 반도체 장치 구성 및 기타 다양한 웨이퍼 프로브 응용 프로그램 등의 전기 테스트를 수행하는 데 사용될 수 있습니다. 일렉트로 글라스 5300 (ELECTROGLAS 5300) 프로버에는 가장 복잡한 칩 디자인에서도 프로브를 정확하게 배치 할 수있는 고정밀 디지털 스캐닝 시스템이 있습니다. 또한 단일 웨이퍼에서 여러 테스트 포인트를 동시에 조사 및 테스트 할 수있는 유연한 4 스테이션 더블 데크 (double-deck) 조작기가 있습니다. 또한, 접촉 (Contact) 및 비접촉 (Non-Contact) 테스트에 사용할 수 있으므로 다양한 유형의 테스트와 프로브를 사용할 수 있습니다. 5300에는 반도체 소자 특성 및 제작에 사용하기 위해 특히 매력적인 몇 가지 기능이 있습니다. 고급 멀티 레이어 프로브 (multi-layer probe) 카드가 특징이며, 이는 0.2 ~ 0.4 um 크기의 매우 작은 스팟 크기이며 여러 위치를 동시에 조사하는 데 사용할 수 있습니다. 따라서 테스트를 완료하는 데 걸리는 시간이 단축됩니다. 또한, 가변 압력 수동 조정 가능한 접촉부가 있으므로 언제든지 정확한 응용 프로그램 압력을 허용합니다. 또한, 완전 부동 프로브 장착 옵션은 테스트 결과의 정확도를 증가시킵니다. ELECTROGLAS 5300은 MEDICI, ISEC 및 Techplan과 같은 설계 및 시뮬레이션을위한 여러 소프트웨어 패키지도 지원합니다. 이러한 패키지를 통해 사용자는 설계 성능을 평가하고, 테스트 결과를 최적화하여, 설계를 보다 쉽게 수행할 수 있습니다. 또한, 이 Prober는 통합 소프트웨어 패키지 및 지능형 하드웨어 플랫폼 인 MultiProbe (MultiProbe) 와 호환되며, 이를 통해 디바이스 테스트가 쉽고 빨라집니다. 전반적으로 5300은 장치 테스트, 제작 및 특성화에 대한 훌륭한 전문가입니다. 첨단 스캐닝 시스템, 가변 압력 접촉부 (Variable-Pressure Contact Arm), 통합 소프트웨어 플랫폼 (Integrated Software Platform) 등 다양한 기능을 결합하여 다양한 테스트 프로젝트를 처리할 수 있는 강력하고 유연한 Prober를 제공합니다.