판매용 중고 ELECTROGLAS 5300 #188830

일렉트로 글라스 5300 (ELECTROGLAS 5300) 은 집적 회로와 같은 마이크로 전자 장치의 전기 특성을 테스트하기 위해 설계된 반도체 웨이퍼 프로버입니다. 반도체 메모리· 로직회로· 고급형 아날로그 (아날로그) 부품· 센서 IC에 이르기까지 다양한 기종을 조사할 수 있다. 이 검사는 매우 반복 가능하고 안정적인 성능을 지닌 고정밀, 자동 기기입니다. 5300의 프로브 헤드는 Z축 변위 단계와 함께 미세 동작 X, Y 변환 단계를 포함하는 고정밀 어셈블리입니다. X 축과 Y 축에 +/-150microns의 이동 범위와 Z 축에 최대 2mm의 이동 (travel) 을 통해 가장 복잡한 Probe 및 Electrical Characterization 작업에 필요한 해상도와 반복 가능한 성능을 제공합니다. 머리는 또한 통합 된 광학 현미경을 특징으로하며, 프로브 (probe) 중인 장치에 대한 고해상도 (high-resolution) 를 제공합니다. Prober의 시각적 피드백 시스템 (Visual Feedback System) 은 정확한 장치 위치와 연락처 상태 (Contact Status) 및 기타 중요한 정보를 표시하며, 이를 통해 연산자는 Probe를 적절한 연락처 위치에 빠르고 정확하게 배치할 수 있습니다. 또한, 프로버의 광학 현미경 (optical microscope) 은 탐사되는 장치에 대한 자동 광학 검사를 가능하게하여 더 많은 정확성과 반복 성을 허용합니다. ELECTROGLAS 5300은 뛰어난 유연성과 확장성을 제공하도록 설계되었습니다. 광범위한 프로브 팁 (Probing Tip) 을 선택할 수 있으므로 다양한 디바이스 유형과 크기를 처리할 수 있습니다. 또한, 프로버는 특수 웨이퍼 유형 (special wafer type) 및 전기 특성 처리 (electrical characterization) 와 같은 광범위한 테스트 요구를 지원하도록 수정할 수 있습니다. 5300은 강력한 기능 외에도 안전과 편의성을 위해 설계되었습니다. 프로버 (Prober) 는 운영자 오류를 방지하도록 설계되었으며, 시스템이 항상 안전하고 안정적인 방식으로 작동하도록 특수 보호 장치 (Special Safeguard) 가 설치되어 있습니다. 또한, 저전압 설계 (Low-Voltage Design) 와 같은 기능은 보관된 장치 andw 환경이 안전하도록 설계되었습니다. 전반적으로, ELECTROGLAS 5300 (ELECTROGLAS 5300) 은 다양한 마이크로 전자 장치의 상세한 전기 테스트를 처리 할 수있는 고도로 숙련 된 자동 시스템입니다. 탁월한 해상도, 반복 가능성, 확장성을 통해 가장 엄격한 테스트 작업을 수행하는 데 이상적인 툴이 됩니다.