판매용 중고 ELECTROGLAS 4090 #9231745

ELECTROGLAS 4090 Prober는 집적 회로 (IC) 제조에서 자동 웨이퍼 처리 및 테스트를 제공하는 고급 웨이퍼 프로브 장비입니다. 정확도가 높고 반복 가능성이 뛰어난 접촉 전기 특성 (contact electrical characterics) 및 장치 기하학적 매개변수 (device geometrical parameters) 의 정확한 측정을 제공하도록 설계되었습니다. 4090은 작은 전력을 측정하기 위해 프로브 그리드를 사용하는 단일 캐리어 EFM (Electrostatic Force Microscopy) 기술을 기반으로합니다. 이 시스템은 접촉 칩, 트랜지스터 및 TSVL (through-silicon-vias) 을 포함한 다양한 기하학적 샘플을 안정적으로 측정하도록 완전히 자동화되어 있습니다. Prober는 FPGA (Field-programmable Gate Array) 를 사용하여 수동 또는 마이크로 매니 펄레이터 또는 검사 헤드와 호환됩니다. 이 강력한 기능을 사용하면 장치가 장치에서 단일 콘택트 (contact) 의 작은 전압 (voltage) 변경을 정확하게 감지할 수 있습니다. 예 를 들어, "밀로미터 '만큼 작은 고도 의 장치 에서 수 백만" 밀리암프' 의 전류 누출 을 탐지 할 수 있다. ELECTROGLAS 4090 Prober에는 다양한 정밀 포지셔닝 장치와 정교한 컨트롤러가 장착되어 있습니다. 기계 를 "프로그램 '하여 측정 할 특성 에 따라 다른 측정 기법 을 선택 할 수 있다. 또한 사용자 지정 검색 (Custom Scan) 옵션을 통해 유연한 속도로 모든 관심 지점에서 데이터를 수집할 수 있습니다. 뿐만 아니라, 공차가 단단한 정확한 스캐닝을 위한 고해상도 레이저 간섭계 (Laser interferometer) 도 포함되어 있습니다. 또한 빠르고 정확한 정렬로 부드러운 움직임을 보장하는 공기 베어링 (air-bearing) 단계도 포함되어 있습니다. 이 자산은 다차원 정렬, 테스트 시간 최적화, 중요 매개변수 분석, 프로브 포지셔닝 (Probe Positioning) 등 다양한 고급 소프트웨어 기능을 지원하여 웨이퍼 테스트 및 프로토타입에 적합합니다. 4090은 또한 전기 접촉 특성, 접촉 각도 도량형, 오염 테스트, 나노 마니화 (nanomanipulation) 와 같은 광범위한 고급 측정 기능을 제공합니다. 특화된 환경 실 (environmental chamber) 이 있으며, 프로버의 광학 및 접촉 패드의 수명을 연장하기 위해 온도와 습도를 조절 할 수 있습니다. ELECTROGLAS 4090 Prober는 오늘날의 집적 회로 생산 라인의 까다로운 요구 사항을 충족하도록 설계되었습니다. 매우 정확한 측정 기능, 효율적인 자동화 기능, 혁신적인 소프트웨어 등을 통해 Wafer 테스트 시간을 줄이고 처리량을 늘릴 수 있습니다.