판매용 중고 ELECTROGLAS 4085X #9106475

ELECTROGLAS 4085X Prober는 반도체 장치 테스트를위한 고급 프로그래밍 가능한 프로빙 플랫폼입니다. 구체적으로, 프로버는 저항, 정전기, 전압과 같은 웨이퍼의 전기 특성을 동시에 최대 28 위치에서 조사하고 측정 할 수있다. 프로버 (Prober) 의 광범위한 기능은 사전 조립 (Pre-assembly) 테스트에서 프로덕션 워크플로우에 이르기까지 다양한 어플리케이션을 테스트하는 데 이상적입니다. 이 프로버는 안정적이고 정확한 프로브를 위해 유연한 하향식 디자인을 갖추고 있습니다. 고유한 '꺼내기 (eject)' 기능을 사용하면 프로브를 활성화하고 비활성화하여 프로시저를 방해하거나 매개변수를 교란시킬 수 있습니다. Prober의 종합적인 제어 기능과 사용자 친화적 인터페이스 (User-Friendly Interface) 를 통해 사용하기 쉽고 프로그래밍이 간편합니다. 이 고급 프로버 (Advanced Prober) 는 지원되는 옵션 소프트웨어 제품을 통해 정교한 Probing 기능과 정확성을 제공합니다. 4085X Prober는 내장형 로딩 장비로 다양한 웨이퍼 크기와 두께를 처리 할 수 있습니다. 이 검사는 6 축 gantry 스타일 모션 컨트롤 시스템으로 안정성과 정밀도를 보장합니다. 내장 비전 유닛은 큰 다이 크기에서도 프로브를 정확하게 배치 할 수 있습니다. 또한, 기계의 프로브 보상은 각 개인이 죽는 것을 테스트 할 때 놀라운 정확성과 신뢰성을 제공합니다. ELECTROGLAS 4085X Prober는 또한 테스트 결과를 정확하게 분석하기위한 혁신적인 온보드 통계 패키지를 갖추고 있습니다. 이 기능 세트에는 패턴 인식, 데이터 분석 및 자동 결함 탐지가 포함됩니다. 이러한 기능은 각 다이 (die) 의 결함 또는 수차에 대한 즉각적인 피드백을 제공할 수 있으며, 사용자는 시련을 조정하여 성능을 최대한 빨리 최적화할 수 있습니다. 이 툴은 또한 정보의 장기 저장을 허용하는 내부 메모리 (internal memory) 를 갖추고 있습니다. Prober는 Probe에서 Assembly, Testing 등 다양한 프로세스 제어를 위해 설계되었습니다. 4085X 프로버 (Prober) 는 고밀도 반도체 장치를 신속하게 처리하기 위한 필수적인 도구로서, 고유하거나 대용량 (high-volume) 테스트 요구를 충족하는 최적의 솔루션입니다. 이 Prober는 수동 (Manual) 구성과 자동 (Automated) 구성으로 제공되므로 매우 다양한 자산입니다.