판매용 중고 ELECTROGLAS 4085X #9095379

ELECTROGLAS 4085X는 반도체 장치의 수동 및 자동 테스트를 모두 위해 설계된 반도체 프로버 장비입니다. Prober 시스템은 복잡한 SoC 및 MCM (Multi-Chip Module) 장치를 포함한 다양한 장치 패키지 및 구성을 테스트하도록 설계되었습니다. 이 장치는 빠른 설정 속도와 측정 속도를 갖춘 고성능 Probing 기능을 제공합니다. 프로버에는 12 구역 프로빙 헤드가 장착되어 있으며, 사용 편의성과 프로브에 대한 정확성이 향상되었습니다. 이 기계는 뛰어난 신호 무결성 (Signal Integrity) 과 다양한 제어 옵션을 제공하는 고성능 랙 마운트 컨트롤러 (Rack Mounted Controller) 로 구동됩니다. 컨트롤러는 입력/출력 제어, 출력 스캔, 디지털 및 벡터 기반 측정을 지원하며 C/C + +, MATLAB, LabVIEW와 같은 소프트웨어 개발 도구와 완벽하게 호환됩니다. 또한, 컨트롤러는 여러 Probe를 동시에 제어할 수 있으므로, 더 빠른 장치 특성화와 향상된 테스트 범위를 제공합니다. 이 프로버에는 프로브 카드 체인저, 차량, 롤러 도구, 웨이퍼 랩핑을위한 Z축 (Z-Axis) 조작 자산과 같은 테스트를 용이하게하기 위해 많은 액세서리가 장착되어 있습니다. 프로브 카드는 공급 전압, 온도 범위, 핀 피치 (pin pitch) 와 같은 다양한 장치 매개변수와 일치하도록 설계되었습니다. 또한, Prober 모델에는 정확한 설치 및 구성을 위한 포괄적인 테스트 프로그램 및 유틸리티 소프트웨어 (Utility Software) 가 포함되어 있습니다. 이 장비에는 대형 핀 스캔, 다중 주파수 테스트, 고속 프로브 인식 (High Speed Probe) 인식 및 식별과 같은 다양한 고급 프로브 기능도 포함되어 있습니다. 또한 자가 서비스 웹 기반 포털과 함께 직관적인 사용자 인터페이스 (user interface) 를 제공하여 설치 및 유지 보수가 간편합니다. 또한, 이 검사는 TESSAR, AutoTest 및 RF Test 플랫폼과 같은 다양한 자동화 및 제어 시스템과 호환되도록 설계되었습니다. 전반적으로 4085X Prober Unit 은 다양한 디바이스 패키지 및 구성을 테스트하기 위한 안정적이고 효율적인 솔루션입니다. 이 제품은 Probe 도중 탁월한 성능과 정확성, 그리고 자동화된 테스트/설정 (Automated Testing and Setup) 을 위한 포괄적인 테스트 프로그램 및 유틸리티 제품군을 제공합니다. 또한, 직관적 인 사용자 인터페이스, 다양한 자동화 시스템과의 호환성은 모든 유형의 반도체 테스트 (semiconductor testing) 에 귀중한 도구가됩니다.