판매용 중고 ELECTROGLAS 4080X #9208165

ELECTROGLAS 4080X Prober는 고성능 응용 프로그램에 사용하도록 설계된 고급 웨이퍼 프로버입니다. 번인 (burn-in) 및 전기 테스트 요구사항을 위한 솔더 볼 어레이의 정밀 조사 (precision probing) 를 포함하여 다양한 응용 프로그램을 위해 설계되었습니다. 이 검사는 단일 및 멀티 다이 구성에서 실리콘 웨이퍼 (6 인치 ~ 12 인치) 의 구성 요소를 테스트하고 측정 할 수 있습니다. 4080X는 슬라이딩 간트리 (Sliding Gantry) 와 고급 모션 장비 (Advanced Motion Equipment) 로 설계되어 웨이퍼 기판을 조사하면서 고속 동작, 반복성 및 정확성을 제공합니다. 고급 제어 시스템 (Advanced Control System) 은 Probe 레시피를 신속하게 변경하여 모든 사용자 요구를 충족할 수 있는 최대의 유연성을 제공합니다. 프로버는 또한 짧은 사이클 시간을 보장하기 위해 XY 정밀 단계를 특징으로합니다. 다중 축 동적 힘 제어 장치 (Multi-Axis Dynamic Force Control Unit) 를 장착하여 정확성과 정확성을 갖춘 뛰어난 반복 가능한 테스트 속도를 제공합니다. 이 프로버 (Prober) 는 또한 고급 디지털 비디오 머신 (Digital Video Machine) 을 장착하여 테스트 사이트를 정확하게 시각화할 수 있도록 제품 품질을 보장합니다. 프로버 (Prober) 에는 500mm ~ 300mm 웨이퍼의 대형 웨이퍼 용량을 빠르게 업로드 할 수있는 자동 웨이퍼 핸들러가 장착되어 있습니다. 또한, 이 Prober에는 자동 부품 ID 인식, 단계별 지침에 대한 그래픽, 반복성 및 정확성을 위한 도구 사전 설정 등과 같은 내장 연산자 지원 기능이 제공됩니다. 자동화된 웨이퍼 핸들러 (automated wafer handler) 및 기타 기능은 정밀 검사 및 테스트를 수행할 때 가장 높은 성능을 제공합니다. 일렉트로 글라스 4080X 프로버 (ELECTROGLAS 4080X Prober) 는 섭씨 -30도, 섭씨 + 125도 정도의 온도에서 테스트 및 프로브를 수행 할 수 있으며, 고급 반도체 장치의 테스트 및 프로브에 이상적입니다. 전반적으로 4080X Prober는 가장 까다롭고 정밀한 Probing and Testing 어플리케이션을 위해 설계된 고성능 Wafer Prober입니다. ELECTROGLAS 4080X Prober는 고정밀 모션 컨트롤 시스템, 디지털 이미징 기능, 자동 웨이퍼 처리 (Automated Wafer Handling) 기능을 통해 반도체 장치의 테스트와 조사를 수행하는 데 안정적이고 효율적인 솔루션을 제공합니다.