판매용 중고 ELECTROGLAS 4080X #293604901

ELECTROGLAS 4080X는 ELECTROGLAS, Inc.에서 만든 고전적인 전문가입니다. 이 장치는 반도체 생산 테스트, 특히 반도체 장치 검사 응용 프로그램을 위해 설계되었습니다. X-Y 스테이지 장비를 활용하여 정확한 포지셔닝과 뛰어난 성능, 정확성, 반복성을 제공합니다. 4080X는 매우 민감한 2 축 인코더 시스템을 갖추고 있습니다. 이를 통해 기판에서 특정 좌표를 정확하게 찾을 수 있으며, 더 작은 (작은) 테스트 사이트를 찾을 수 있습니다. 이 프로버는 또한 표준 XYZ 컨트롤러를 사용하여 최대 4 개의 축으로 자동 동작을 제공합니다. ELECTROGLAS 4080X는 최대 0.001mm의 해상도로 매우 정확한 위치와 정확도를 달성 할 수 있습니다. 최대 20,000mm/s의 속도에서도 정밀도가 유지됩니다. 4080 X 에는 접촉 탐지 장치 (Contact Detection Unit) 가 장착되어 있어 표본의 섬세한 표면을 손상시키는 것을 방지하는 미묘한 조정을 할 수 있습니다. 디바이스에서 동시에 여러 신호를 출력하거나 감지할 수 있습니다. 이 신호는 프로브 (Probe) 에 부착 된 민감한 트랜스듀서 (Transducer) 에 의해 픽업되어 샘플에서 직접 피드백을 제공합니다. 반도체 테스트 전압 (0 ~ 28V) 을 지원하여 다양한 주파수에서 테스트할 수 있습니다. 프로버는 또한 여러 번의 달리기를 할 수 있으며, 최대 섭씨 200 도의 온도에서 효과적으로 작동 할 수 있습니다. 작동을 용이하게 하기 위해 ELECTROGLAS 4080X는 시스템 작업과 테스트 목적으로 사용자 친화적 인 그래픽 사용자 인터페이스 (Graphical User Interface) 를 갖추고 있습니다. 또한 프로그래밍 가능하여 운영자가 여러 테스트 프로토콜을 빠르고 효율적으로 실행할 수 있습니다. 4080X에는 많은 추가 액세서리가 제공됩니다. 이러한 액세서리는 추가 기능을 제공하여, 사용자의 특정 요구에 맞게 도구를 사용자 정의할 수 있도록 도와줍니다. ELECTROGLAS 4080X는 검증되고 신뢰할 수 있는 툴로서 뛰어난 성능과 정확도를 제공합니다. 이 장치는 반도체 (semiconductor) 테스트 및 프로브 (probing) 애플리케이션을 위한 탁월한 선택으로, 사용자가 테스트 기능 측면에서 업계에서 제공하는 최상의 이점을 활용할 수 있습니다.