판매용 중고 ELECTROGLAS 4080X #293594833

일렉트로 글라스 4080X 프로버 (ELECTROGLAS 4080X Prober) 는 다양한 샘플 크기, 재료 및 레이어에서 정확하고 정확한 웨이퍼 테스트 결과를 생성하도록 설계된 고정밀 자동 프로빙 장비입니다. 이 시스템은 디지털 (digital) 및 아날로그 (analog) IC와 단일 장치의 RF 및 전원 장치를 모두 테스트할 수 있습니다. 4080X Prober는 샘플 이동 및 배치를위한 광학적으로 정렬 된 XY/Theta 단계, 샘플 취급을위한 XYZ/Theta 암 및 고출력 현미경 (사용 가능한 광학은 10x 및 40x) 으로 구성됩니다. 또한, 기계는 추가 프로브 요구를 위해 최대 4 개의 동작 축으로 확장 할 수 있으며, 나노 레벨 프로브를 쉽게 설정하고 처리 할 수 있도록 설계되었습니다. 최첨단 디자인으로 ELECTROGLAS 4080X Prober는 운영자 추측 작업을 제거하고 조사 정확도를 크게 높입니다. 이 도구는 직관적인 UI (User Interface) 를 통해 테스트 작업을 신속하게 설정하고 실행할 수 있으며, 문제가 없습니다. UI에는 작업 매개변수, 빠르고 쉬운 설정 매개변수, 프로그래밍 가능한 Probing 속도, 단계 크기 및 스캐닝 기능, 자동 잠금 (Auto-Lock) 및 조정 기능을 자세히 인식하는 레시피 디스플레이가 포함되어 있습니다. 열 드리프트 및 기타 환경 효과에 맞게 조정하는 고급 내장 알고리즘도 있습니다. 4080X Prober의 고정밀 프로브 (high-precision probing) 는 나노 레벨 프로브 (nano-level probe) 배열을 사용하여 최고 수준의 정확성과 반복 성을 제공합니다. 프로브 (Probe) 는 정확한 측정을 위해 고급 재료 (Advanced Materials) 와 기술을 사용하여 구성되며, 다양한 테스트 요구 사항에 맞는 다양한 구성이 제공됩니다. 일렉트로 글라스 4080X 프로버 (ELECTROGLAS 4080X Prober) 는 장기 생산 성능을 위해 설계되었으며 신뢰성이 높아 다양한 네트워크 어플리케이션 및 기술 발전에 적합합니다. 이 자산은 업계 표준 표준 테스트 환경 (ATE) 을 지원하며, 다양한 하드웨어 구성 옵션과 호환됩니다. 기존 하드웨어와의 호환성을 위해 Elecroglas 4080X Prober는 다양한 네트워크, 소프트웨어 및 하드웨어 플랫폼을 지원하는 고급 통신 인터페이스를 갖추고 있습니다. 또한, 다양한 테스트 소프트웨어 옵션을 통해 전문 테스트 기능을 추가로 사용할 수 있습니다. ELECTROGLAS 4080X Prober 모델은 다양한 유형의 응용 프로그램에 대한 안정성과 정확성을 제공하는 고급, 고정밀 프로빙 솔루션입니다. 장기적, 지속적인 성능을 위해 설계되었으며, 첨단 기술 (Advanced Technology) 은 다양한 테스트 조건에 대한 일관된 샘플링을 보장합니다. 이 장비는 구성 가능하고 업그레이드 가능한 설계로 향후 테스트 요구를 충족할 수 있는 유연성 (Flexibility) 과 확장성 (Extensibility) 을 제공하므로 다양한 유형의 테스트 환경에 적합한 제품입니다.