판매용 중고 ELECTROGLAS 4080X #293585556

일렉트로 글라스 4080X 프로버 (ELECTROGLAS 4080X Prober) 는 반도체 업계에서 가장 까다로운 어플리케이션의 요구를 충족시키기 위해 설계된 완전 통합형 Prober 장비입니다. 하이엔드 100MHz, 8인치 웨이퍼 (wafer) 스캔 및 테스트 플랫폼으로, 가장 저렴한 비용으로 높은 성능을 제공할 수 있습니다. 4080X Prober는 독점 정밀 검사 헤드 및 완전 자동화 처리 시스템을 사용하여 마이크로 프로세서, 메모리, FPGA, 아날로그/혼합 신호, 사용자 정의 장치 설계와 같은 IC 장치에 대한 가장 고급 테스트 및 어셈블리 작업을 지원합니다. 스캐너에는 독특한 고속, 저전력 아연 도금계 (galvanometer) 디자인이 포함되어 있으며, 빠른 이동과 초점 최적화를 통해 다른 전문가에 비해 더 나은 정확성과 속도를 제공합니다. 신뢰성이 높고 견고한 스캐너는 또한 특허를 획득한 독보적인 진공 터널링 효과를 제공하여 빔 프로파일 제어 (beam-profile control) 및 해상도 최적화 (resolution optimization) 를 개선했습니다. 장치의 핵심은 자동 웨이퍼 처리 기계에 있습니다. 초속 250mm/초의 속도로 테스트 헤드를 움직일 수있는 고속 X/Y Gantry가 장착되어 있습니다. 또한 양방향 스캐닝 (Bidirectional Scanning) 과 다양한 웨이퍼 크기와 슬라이스 스루 (Slice through) 및 픽/플레이스 (Pick/Place) 기능을 지원하여 샘플 장착 및 테스트를 용이하게 합니다. 일렉트로 글라스 4080X 프로버 (ELECTROGLAS 4080X Prober) 는 또한 다양한 스크립트, 제어 및 빠른 측정 기능, 빠른 테스트 설정/실행 기능을 통합한 직관적인 사용자 인터페이스 (user interface) 를 통해 고객의 구체적인 테스트 요구 사항을 인식하고 응답하는 데 유연합니다. 4080X Prober의 신뢰성과 품질은 업계에서 타의 추종을 불허하며, 4 개의 웨이퍼 스테이지에서 시간당 최대 240 개의 와퍼 (wafer-per-hour) 용량을 제공합니다. 또한 98% 가 넘는 가용성과 유연한 모듈식 아키텍처를 통해 손쉽게 유지 보수/업그레이드할 수 있습니다. 전반적으로 ELECTROGLAS 4080X Prober는 모든 IC 장치 테스트 및 조립 작업, 극도의 정확도, 탁월한 신뢰성을 갖춘 뛰어난 기계입니다. 반도체 (Semiconductor) 제조 및 테스트 환경에 이상적인 솔루션으로, 탁월한 안정성과 품질의 고성능, 경제성, 강력한 검증을 필요로 합니다. 4080X Prober (Prober) 는 고유한 기능과 기능을 통해 가장 까다로운 테스트 요구 사항에 적합한 솔루션을 제공합니다.