판매용 중고 ELECTROGLAS 4080 #9155192

ELECTROGLAS 4080은 반도체 부품 테스트 및 생산을 위해 설계된 고정밀, 고속 프로버입니다. 4080 은 크기, 모양, 재료 특성 등 전기 특성 을 정확 하고 신속 히 측정 할 수 있게 되어 있다. 10 미크론 프로브 및 정밀 프로브 장비를 사용하여 빠른 웨이퍼 프로브와 높은 정확도를 제공합니다. 프로버 자체에는 자동 웨이퍼 처리 시스템 (Automated Wafer Handling System) 이 있으며, 클린 (Clean) 및 자동 웨이퍼 로드 및 언로드가 가능하며 주기 시간은 10 초입니다. 프로버는 8 점 접촉 장치 (Contact Unit) 로 제작되어 테스트 포인트를 빠르고 정확하게 파악합니다. 또한 프로버 척 (prober chuck) 과 정확한 다이 (die) 배치에 웨이퍼 클램프 설계를 제공하여 최적의 웨이퍼 및 다이 성능을 보장합니다. 이 기계에 사용되는 정전용량 스타일 프로브 (capacitive style probe) 는 정밀도 및 제어 기능을 갖춘 단회로를 감지하도록 설계되었습니다. 내부 머신은 닫힌 루프 피드백 (closed loop feedback) 컨트롤로 제작되어 소음을 줄이고 정확도를 향상시킵니다. 또한 오프라인 교정 프로세스 (offline calibration process) 와 공구 노후화 및 환경 변경에 대한 자동 보상이 특징이며, 신뢰성이 높고 정확합니다. ELECTROGLAS 4080은 시간당 최대 20,000 개의 웨이퍼 스캔에서 DC, AC, Stress 및 Parametric 기능을 포함하여 여러 매개 변수로 높은 처리량 테스트 및 테스트를 수행 할 수 있습니다. 이 속도와 정확성을 통해 운영자는 반도체 웨이퍼를 빠르고 안정적으로 테스트 할 수 있습니다. 이 자산에는 직관적이고 사용이 간편한 사용자 인터페이스가 있어 운영자가 신속하게 모니터링, 매개변수 설정, 실시간 조정, 저장된 테스트 데이터 액세스 등을 수행할 수 있습니다. 또한 4080 은 자동화된 결함 분석 모델 (Automated Defect Analysis Model) 로 구축되어 데이터를 계층화하고 데이터 패턴을 감지할 수 있으며, 엔지니어가 테스트 결과를 신속하게 분석하고 결함이 있는 구성 요소를 신속하게 복구할 수 있습니다. 결론적으로 ELECTROGLAS 4080 Prober는 반도체 테스트를위한 효율적이고 신뢰할 수있는 장비입니다. 10 미크론 프로빙 시스템, 자동 웨이퍼 처리, 8 점 접촉 장치, 정전 식 프로브 및 매우 정확한 폐쇄 루프 피드백 제어 머신으로 설계되었습니다. 고도로 정확하고 정확한 기능, 자동화된 분석/장애 감지 기능, 4080 은 반도체 부품 테스트/생산에 이상적인 전문가입니다.