판매용 중고 ELECTROGLAS 3001X #144185

ELECTROGLAS 3001X Prober는 반도체 칩 및 전기 기계 장치의 정밀 조사를 위해 설계된 완전 자동화 테스트 장비입니다. 집적회로 (Integrated Circuit) 및 기타 여러 응용 프로그램의 소규모 장치에 대해 다양한 테스트와 검사를 수행하는 데 사용됩니다. 3001X Prober는 모듈식 (modular) 설계를 기반으로 하며, 이를 통해 사용자는 시스템을 특정 요구 사항에 맞게 사용자 정의할 수 있습니다. 여기에는 운영 콘솔 (Operations Console) 과 메인프레임 제어 장치 (Mainframe Control Unit) 가 포함되어 있어 사용자 인터페이스 제어 및 데이터 스토리지를 제공합니다. 프로버 (Prober) 는 액세서리 (옵션) 와 자동화된 다중 암 (Multiple Arm) 로봇으로 구성될 수 있습니다. ELECTROGLAS 3001X Prober의 고급 시스템 설계 기술은 다양한 칩 밀도와 프로세스 복잡성에 대한 효율적인 테스트를 제공합니다. 고정밀 전압 곡선, 전류 수준 측정, 빠른 스위칭 시퀀스, 회로 무결성 스캔 등을 수행하는 데 사용할 수 있습니다. 이 시스템의 해상도는 1 미크론이고 반복성은 0.5 미크론으로, 테스트 결과의 완벽한 제어 및 정확성을 제공합니다. 프로버 (Prober) 에는 통합 환경 챔버 (Environmental Chamber) 도 포함되어 있으며, 최적의 열 조건에서 테스트 중인 장치를 유지할 수 있습니다. 또한 3D 현미경 (3D microscope) 이 포함되어 있는데, 이를 통해 사용자는 테스트 중인 장치의 상태와 프로브 바늘에 의해 가해지는 압력을 조정하는 통합 결정 네트워크 (Integrated Determination Network) 를 검사 할 수 있습니다. 또한 3001X Prober는 고급 데이터 분석 패키지 (advanced data analysis package) 를 제공하여 테스트 결과를 시각화하고 해석 할 수 있습니다. 또한 다양한 다른 테스트/처리 시스템과 통합될 수 있습니다. 이를 통해 테스트 프로세스를 간소화하고 지속적인 운영을 보장할 수 있습니다. 전반적으로 ELECTROGLAS 3001X Prober는 반도체 산업에서 사용하도록 설계된 신뢰할 수있는 고정밀 프로버입니다. 광범위한 기능/기술을 통해 사용자가 정확하고 효율적인 테스트/검사 프로세스를 수행할 수 있습니다 (영문).