판매용 중고 ELECTROGLAS 2080X #6037

ELECTROGLAS 2080X는 고성능 특성 및 안정성 테스트를 위해 설계된, 고급, 완전하게 자동화된 전문가입니다. 고속 스캔, 다중 동작 축 (multiple axes of motion), 정밀 측정 기능, 다양한 소프트웨어/하드웨어 옵션 등 다양한 옵션을 제공합니다. 이 Prober는 고정밀도, 빠른 데이터 획득 및 고속 스캔을 제공하여 정확하고 반복 가능한 테스트를 제공합니다. 2080X는 다양한 어플리케이션을 지원하기 위해 다양한 웨이퍼 처리 (wafer handling), 프로브 (probing) 및 정렬 (alignment) 옵션을 제공합니다. 웨이퍼 스테이지 (wafer stage) 는 최대 5 개의 축에서 독립 동작을 사용할 수있는 여러 웨이퍼를 동시에 처리하도록 설계되었습니다. 견고하고, 높은 힘의, 전동화된 Z축은 전체 Probing 요구 사항에 비해 정확한 거리 측정을 보장합니다. 프로브 암 (Probe Arm) 의 정밀 설계 및 소형화는 섬세한 부품의 정확한 프로브 및 위치를 가능하게한다. 프로버 (Prober) 에는 매우 정확한 웨이퍼 정렬 및 자동 정렬 기능을 제공하는 고급 비전 (Advanced Vision) 시스템이 장착되어 있습니다. 실시간 위치 피드백 (Real-Time Positional feedback) 은 Probe 배치 및 정확도를 최적화하는 반면, 실시간 비전 시스템은 Probe 전에 장치 평탄도를 정확하게 정렬하고 검사합니다. ELECTROGLAS 2080X는 다양한 전기 테스트 아키텍처를 지원하며, 고속 데이터 수집 및 정밀 검사를 모두 제공합니다. 멀티플렉서, 컨택터, WfDA, 채널, AFM/SPM 등 다양한 테스트 헤드와 호환됩니다. 이 프로버는 또한 실패 분석, 추적 가능성, 수율 추세 분석과 같은 실시간 테스트 피드백 메커니즘을 포함합니다. 또한 2080X에는 다양한 애플리케이션별 테스트 옵션이 제공됩니다. 소프트웨어 패키지는 burn-in, photo metrology 및 semiconductor manufacturing과 같은 응용 프로그램에 맞게 구성할 수 있습니다. 또한 온도 모니터링을 지원하므로 고온 테스트 중 온도 조절이 정확합니다. 또한, 프로버는 자동 고속 프로빙 시스템에서 사용될 수 있습니다. ELECTROGLAS의 ELECTROGLAS 2080X Prober는 고성능, 신뢰성 있는 테스트 및 정확한 데이터 입수를 제공합니다. 웨이퍼 처리 (Wafer Handling), 검사 (Probing) 및 정렬 (Alignment) 옵션을 사용하면 다양한 응용 프로그램에 다용도 도구로 사용할 수 있습니다. 또한 정확한 온도 조절 및 실시간 테스트 피드백 (feedback) 기능을 통해 엔지니어링 및 R&D 부서에 이상적인 선택이 가능합니다.