판매용 중고 ELECTROGLAS 2001 #9372657

ELECTROGLAS 2001 Prober는 고급 웨이퍼 프로브를 위해 확장 된 기능 세트 및 본격적인 통합 측정 보드를 갖춘 고성능, 저주파 모듈러 프로버 장비입니다. 이 시스템은 DC, AC 및 혼합 신호 (Mixed-Signal) 기술을 테스트할 수 있으며 HDI (High Density Interconnects) 를 염두에 두고 설계된 패드 어레이를 통한 고유한 조사 솔루션을 제공합니다. 2001 Prober는 EDA (Electronic Design Automation), 반도체 제조, 자동차, 의료, 통신 및 항공 우주 등 다양한 산업에서 회로 기판 테스트에 필요한 엄격한 조사 요건을 충족하도록 설계되었습니다. ELECTROGLAS 2001 Prober는 독점 저전압, 높은 정확도, 나노 볼트 미터 측정 보드 (nano-volt-meter measurement board) 와 같은 최신 기술 및 부품을 사용하여 장치 테스트의 정확성과 정밀도를 보장합니다. 이 보드에는 고전력 장치 측정을위한 1000V DC 전원 공급 장치, 조절 가능한 0-1 amp 전류 소스, AC 및 DC 전압 측정을위한 2 개의 가상 채널 전압 미터 및 I2C 및 SPI 통신을위한 4 개의 이중 채널 디지털 신호 처리-DSP 보드가 포함되어 있습니다. 2001 prober는 또한 구성 요소 테스트의 최고 정확성을 보장하기 위해 2 단계 전기 테스트 프로세스를 갖추고 있습니다. 첫 번째 단계는 기본 전류가 최대 1,000 볼트를 조사하는 반면, 두 번째 단계는 각각 40 kHz, 2 kHz 및 0.5 kHz에서 이중 전류 분사 프로브입니다. 이 2 단계 테스트 프로세스는 다른 미디어 유형으로 인한 지연 (delay) 및 시간 초과 (timeout) 가 있는 경우에도 구성 요소 테스트에서 보다 높은 정밀도와 신뢰성을 보장합니다. ELECTROGLAS 2001 Prober는 빠른 매개 변수 설정을 위해 자동 기본 테스트 설정도 제공합니다. 이 셋업 (setup) 기능은 낮은 주파수 신호를 측정할 때 특히 유용하며, 이는 보다 정확한 측정이 필요합니다. 또한 자동 설치 (Automated Setup) 기능을 통해 수작업 테스트가 필요하지 않으므로 전반적인 운영 효율성이 향상됩니다. 2001 Prober에는 최대 3 개의 등열 테스트 시스템을 관리 할 수있는 고급 열 관리 (Advanced Thermal Management) 기능이 장착되어 있습니다. 이를 통해 여러 테스트 구성을 동시에 수행할 수 있게 되어 전체 테스트 프로세스 (testing process) 에 소요되는 시간이 크게 단축됩니다. 또한, 열 관리 (thermal management) 기능은 장치가 매번 동일한 조건에서 작동 할 수 있으므로 테스트 결과가 반복 가능하도록 보장합니다. ELECTROGLAS 2001 Prober는 접점 정확도로 DC, AC 및 Mixed-Signal 회로를 측정 할 수있는 고급 웨이퍼 프로브 기계입니다. 이 툴은 최첨단 기술을 활용하여 구성 요소 테스트의 최고 수준의 안정성, 정확성, 효율성을 보장합니다. 또한, 자동 설정 (automated setup) 및 열 관리 기능을 통해 2001 년은 고주파 컴포넌트 테스트를 위한 이상적인 선택입니다.