판매용 중고 ELECTROGLAS 2001 #9316113

ELECTROGLAS 2001 (ELECTROGLAS 2001) 은 ELECTROGLAS Inc.에서 개발 한 전문가이며, 웨이퍼 및 IC의 자동 테스트에서 속도, 정밀도 및 정확성에 대한 업계 표준으로 간주됩니다. 2001 년은 테스트 작업에 대한 포괄적인 솔루션을 제공하여 Probe 프로세스를 완벽하게 자동화할 수 있습니다. 일렉트로 글라스 2001 (ELECTROGLAS 2001) 은 독특한 즉석 자동 보상 장비를 갖추고 있으며, 프로 버 (Prober) 의 팁은 표면 불규칙성을 보상하기 위해 위치를 미세하게 조정할 수 있습니다. 이를 통해 프로버 (Prober) 는 표면 불규칙성 (Surface 불규칙성) 이 테스트 프로세스의 정확성에 영향을 미치지 않고 테스트 프로브를 필요한 패드 또는 테스트 지점에 정확하게 배치할 수 있습니다. 2001 년은 접점 (Contact Force) 을 조정하여 테스트 중인 웨이퍼 (Wafer) 나 테스트 포인트 (Test Point) 를 손상시키지 않고 단단히 설정하고 특정 테스트에 필요한 접점 (Contact Force) 을 설정하도록 설정할 수 있습니다. 이 조절 가능한 접촉력 (Contact Force) 은 과도한 접촉력 (Contact Force) 에서 통증 알림을 줄이기 때문에 테스터에게도 유익합니다. ELECTROGLAS 2001은 높은 수준의 통합을 통해 발광 및 무인 작동을 허용합니다. 모든 테스트 동작을 제어하기 위해 단일 축 (single axis) 모터 테스터가 있으며, 이는 비용을 줄이고 운영자의 안전을 보장합니다. 테스터의 정확성을 보장하기 위해 진공 척 (vacuum chuck), 자동 중심 (auto centering), 자동 공구 시스템 (auto tooling system) 과 같은 향상된 기능을 갖추고 있습니다. 또한, 2001 년에는 장치 상태를 모니터링하고 시스템 문제가 감지되면 운영자에게 경고하는 자가 진단 시스템 (self-diagnostics system) 이 있습니다. ELECTROGLAS 2001에는 다양한 고급 소프트웨어 (Advanced Software) 가 장착되어 있어 테스트 프로세스를 더욱 단순하고 효율적으로 수행할 수 있습니다. IC 추적 및 테스트 결과를 용이하게 하기 위해 Data Manager Pro 또는 OCT2000 등의 유틸리티가 장착될 수 있습니다. 또한, 테스트 프로세스의 자동화를 돕기 위해 포괄적인 테스트 프로그램 라이브러리 (Library of test programs) 를 사용할 수 있으며, 이는 테스트 프로그래밍의 유연성을 제공합니다. 결론적으로, 2001 년은 다양한 IC 및 웨이퍼에 대해 빠르고, 정확하며, 신뢰할 수있는 테스트를 제공하는 고정밀 전문가입니다. 다양한 고급 기능 (예: 능동형 자동 보상 도구, 조절식 컨택트 포스 (Contact Force), 단일 축 동력 테스터, 종합 소프트웨어) 을 통해 자동화된 테스트 작업에 적합합니다.