판매용 중고 ELECTROGLAS 2001 #9173729

ELECTROGLAS 2001은 집적 회로의 전기 특성을 테스트하도록 설계된 전문가입니다. 모든 기능을 갖춘 고도로 자동화된 테스트 장비로, 수동 설정 (manual setup) 및 교정 (calibration) 이 필요 없이 정확한 결과를 제공합니다. 이 시스템은 높은 정확도의 파라메트릭 DC 논리 (parametric DC logic) 및 아날로그 매개변수 (analog parameters) 를 자동으로 측정하고 실시간 회로 응답 테스트를 제공하도록 설계되었습니다. 2001 년은 스캔 헤드, 메인프레임 프로세서, 통합 스테퍼 드라이브, 모터 컨트롤러 및 프로브 카드로 구성됩니다. 스캔 헤드에는 다중 채널 광 채널이 있으며 최대 32 개의 패라메트릭 DC 논리/아날로그, 벡터/시간 및 스캔 공구 기능을 제공합니다. 스캔 헤드는 집적 스테퍼 모터 (integrated stepper motor) 에 의해 구동되며, 이를 통해 다양한 집적 회로 (integrated circuit) 구성을 테스트하기 위한 공구를 정확하게 정렬하고 정확한 스테핑할 수 있습니다. 최대 8 개의 Probe 바늘을 수용하도록 설계된 Probe 카드가 스캔 헤드에 통합되었습니다. ELECTROGLAS 2001의 테스트 헤드는 논리 입력 채널, 아날로그 입력 채널, 벡터 입력 채널 및 시간 입력 채널로 구성됩니다. 논리 입력 채널을 사용하면 논리 게이트, 레지스터, 플립 플롭 (flip-flops) 과 같은 디바이스를 정적으로 테스트할 수 있습니다. 양수 및 음수 논리 레벨에 대해 최소/최대 전압 임계값을 갖습니다. 아날로그 입력 채널은 정전기 및 유도 장치의 전기 특성을 측정 할 수 있습니다. 벡터 입력 채널 (Vector Input Channel) 은 장치의 작동 주파수, 위상 (Phase) 및 트랜스컨덕턴스 (Transconductance) 를 측정하는 반면, 시간 입력 채널은 디지털 논리 신호의 증가 및 하강 시간을 측정하도록 설계되었습니다. 메인프레임 프로세서는 표준 프로그래밍 툴과 언어를 사용하는 중앙 집중식 제어 인터페이스를 제공합니다. 이 플랫폼을 사용하면 설정 및 매개 변수 구성, 사용자 정의 알고리즘, 실시간 측정 판독값을 쉽게 설정할 수 있습니다. 또한, 프로세서는 강력한 그래픽 프로그래밍 및 원격 네트워크 연결을 지원합니다. 2001년에는 원격 액세스/진단 (Remote Access and Diagnostics) 을 위한 강력한 유닛 소프트웨어와 웹 기반 애플리케이션, 테스트 결과의 저장 (Storage of Test Results) 을 위한 데이터 관리 기능도 포함되어 있습니다. ELECTROGLAS 2001은 다양한 집적 회로를 테스트하고 해결하는 데 유용한 도구입니다. 고급 자동화 (automation) 기능과 포괄적인 테스트 기능을 통해 효율성 및 최소 (calibration) 을 극대화하는 탁월한 결과를 제공합니다. 이것 은 오늘날 의 집적 회로 에서 매우 복잡 한 "테스트 '를 수행 하기 위한 안정성 있고 정확 한 기계 이다.