판매용 중고 ELECTROGLAS 2001 #149893

ELECTROGLAS 2001은 정밀도가 높은 IC 또는 집적 회로를 테스트하도록 설계된 웨이퍼 프로버입니다. 자동 샘플 처리 (automated sample handling) 장비가 장착되어 있어 최대 8 개의 샘플을 동시에 처리할 수 있어 고효율과 처리량을 보장합니다. 또한 다양한 물리적 측정이 가능한 고급 프로브 헤드 (Advanced Probe Head) 가 있습니다. 2001 년에는 기본 특성화부터 전체 생산 기술 테스트에 이르기까지 다양한 테스트 기능이 있습니다. 다용도 소프트웨어 플랫폼은 다양한 유형의 IC에 대한 테스트 매개변수 (test parameter) 를 쉽게 프로그래밍할 수 있도록 설계되었으며, 여러 샘플을 신속하게 설치 및 테스트할 수 있습니다. 프로버 (Prober) 는 작동 중에 샘플과 연산자를 모두 보호하도록 설계된 연동 시스템을 갖추고 있습니다. 터치 민감성 인터페이스 (touch sensitive interface) 는 항정적 (antistatic) 커버와 함께 장치의 인체 공학 및 안전성을 더합니다. 강화 된 다이아몬드 프로브 및 관련 구성 요소를 사용하면 ELECTROGLAS 2001이 저온, 고온, 습도 및 진동 조건에서 작동 할 수 있습니다. 다채널 디지털 오실로스코프 (oscilloscope) 를 사용하면 문제를 쉽게 파악하고 해결할 수 있습니다. 2001 년은 또한 커패시턴스, 지연, 전압 수준, 모니터, DC 스윕 등 다양한 분석 기기를 제공합니다. 고속 반도체 제품 및 프로세스 (예: 동적 RAM (DRAM) 및 SRAM) 에서 테스트하는 데 적합합니다. 매우 정밀하고 안정적인 성능으로, 복잡하고 섬세한 프로세스의 품질을 보장할 수 있습니다. ELECTROGLAS 2001은 직관적인 그래픽 사용자 인터페이스와 높은 정확도로 사용자 친화적입니다. 2001 년 유지 보수 및 보정은 비교적 쉽고, 표준 유지 보수 및 사용자 조정 가능한 보정 주기입니다. 이 장치에는 온보드 관리 머신 (On-board Management Machine) 이 장착되어 있어 작업 중에 Prober의 성능을 설정하고 모니터링할 수 있습니다. 또한 작업 시퀀스를 예약하고, 테스트 결과를 저장하고, 유지 관리 상태를 모니터링하는 데 도움이 됩니다. 전반적으로 ELECTROGLAS 2001은 신뢰할 수 있고, 사용자 친화적 인 프로버로, 복잡한 IC의 높은 정확성 테스트 및 분석을위한 완벽한 솔루션을 제공합니다. 테스트 능력의 범위는 물론, 매우 정확하고 신뢰할 수 있으며, 최대한의 안전 측정 (Safety Measures) 을 제공합니다. EMC DL 시리즈 는 광범위한 강력한 분석 툴을 제공하며, 이를 통해 사용자는 설계를 구체화하고 최상의 품질의 결과를 보장할 수 있습니다.