판매용 중고 ELECTROGLAS 1034XA #123638

일렉트로 글라스 1034XA (ELECTROGLAS 1034XA) 는 물리적 접촉을 통해 생산 중인 집적 회로를 테스트하고 분석하는 데 사용되는 고급 전문가입니다. 1034XA 는 신속한 연락 조사 (Contact Probing) 를 통해 전반적인 테스트 시간을 줄이고, 제품의 품질을 향상시키며, 수율을 높일 수 있습니다. 즉, 다운타임 및 운영자 교육 시간을 최소화하고 안정적으로 설계하여 대용량 (high-volume) 생산의 요구를 충족할 수 있도록 설계되었습니다. ELECTROGLAS 1034XA는 중요한 구성 요소에 대한 고정밀 테스트를 위해 설계되었습니다. 일관되고 반복 가능한 수직 동작을 가능하게 하는 고급 Z축 설계가 특징이며, 정확한 접촉 정렬 및 프로브-패드 (Probe-to-pad) 위치 정확도를 달성합니다. 1034XA (Custom, Patented Pin-Alignment) 장비는 전기적 접촉이 발생하기 전에 각 서피스 마운트 접촉 프로브를 올바르게 정렬하도록 합니다. 이 시스템은 또한 핀 (pin) 적응을 가능하게 하여 동일한 보드에서 다른 핀 구성을 사용할 수 있습니다. ELECTROGLAS 1034XA는 정확하고 고속 접촉 프로브를 위해 설계되었습니다. 최소 수준의 접촉력 (Contact Force) 을 제공하여 테스트 중인 장치에 대한 기계적 손상 가능성을 줄입니다. 최대 75kHz 또는 100kHz의 높은 처리량을 제공하는 1034XA는 빠른 테스트 주기와 우수한 테스트 범위를 제공합니다. 일렉트로 글라스 1034XA (ELECTROGLAS 1034XA) 는 또한 다이 당 테스트 사이클이 적은 처리량을 향상시키기 위해 여러 프로브를 동시에 또는 순차적으로 조정하는 기능을 가지고 있습니다. 1034XA에는 테스트 중 프로브 접촉용 핀을 검사할 수 있는 온보드 비전 유닛 (Onboard Vision Unit) 도 있으며, 장애 해결을 위한 추가 프로브 (Probing) 와 같은 대체 수정이 추가될 수 있는 피드백을 제공합니다. 이 기능은 또한 테스트 프로그램을 더욱 최적화하고 사용자 정의할 수 있는 잠재력을 제공합니다. 일렉트로 글라스 1034XA (ELECTROGLAS 1034XA) 에는 프로브 로드 및 제거 프로세스를 단순화하기 위해 자동 레벨링 머신과 같은 몇 가지 편리한 기능도 있습니다. 프로버 (Prober) 는 다양한 설비, 컴포넌트, 테스트 시스템과도 호환되므로 기존 운영 프로세스에 쉽게 통합할 수 있습니다. 또한 1034XA (Automated Handler) 및 RF 테스터와 함께 사용하면 대용량 생산의 요구를 충족하기 위해 정밀한 테스트 반복 성과 처리량을 얻을 수 있습니다. 요약하자면, ELECTROGLAS 1034XA Prober는 집적 회로의 테스트 및 분석을위한 신뢰할 수 있는 고성능 도구입니다. 고급 Z축 설계를 통해 정확한 접촉 정렬 (Contact Alignment) 및 포지셔닝 (Positioning) 과 함께 핀을 검사할 수 있는 온보드 비전 도구를 제공합니다. 1034XA는 고속 접촉 프로브 (Contact Probe) 를 지원하며, 최소한의 접촉력과 빠른 테스트 주기와 우수한 테스트 범위를 위한 조정 된 다중 프로브 (Codinated Multiple Probing) 를 지원합니다. 이 검사는 다양한 설비, 컴포넌트, 테스트 시스템과 호환되며, 정밀 테스트 및 처리량을 위해 자동화된 핸들러 및 RF 테스터와 쉽게 통합 할 수 있습니다.