판매용 중고 DVT SOLUTION Gigaprobe DVT30-1MM #102353

ID: 102353
Hand held probe for TEKTRONIX TDR oscilloscopes 30GHz, Differential & Single-end, 0.25~2mm pitch adjustable Used for: TDR/TDT, S-parameter Features: 30 GHz Bandwidth True Odd Mode 100 ohm Differential Input Impedance Probe can be converted to 50 ohm input impedance TDR Launch Discontinuity <20 mv Fall Time 20 ps or <5 ps Fall Time Degradation Fully Balanced Differential Signals without Ground Contact Adjustable Probe Pitch from 0.25 mm to 2.0 mm Probe Tip diameter 0.254 mm Gold Plated Conductive Diamond non oxidizing probe tips for repeatable TDR measurements Low probing force <10 grams Four probes in one: Use as a 100 ohm, 50 ohm, as a Hand Probe or Mount in a probe articulating arm for hands free probing Full Set of Probe Pitch Calibration Accessories Included Characteristics: Attenuation: 1X Probe Only Bandwidth: 30 GHz TDR Degradation: <5 ps Probe Pitch: 0.25 mm to 2.0 mm (signal tip to signal tip) Connector Type: SMA Measured Reflected TDR Fall Time: 20 ps Impedance: 100  differential, 50  common mode, Max Voltage In: 5.0 V (Note: numeric values shown are typical) Applications: Create - Single Ended, Differential Insertion, Return Loss Sparameters from TDR/ TDT Measurements for determining interconnect bandwidth performance using Tektronix DSA8200 TDR and IConnect® Impedance Testing - Use IConnect for precision impedance analysis of IC Packages, Cables, PCB’s and Backplane Testing Failure Analysis of Device Packages - Locate failure modes.
DVT SOLUTION Gigaprobe DVT30-1MM은 반도체 재료의 성능을 테스트하고 측정할 때 업계 최고의 정확성과 속도를 제공하도록 설계된 고급 반도체 프로브 장치입니다. 이 장치에는 초저소음 설계 (Ultra-Low-Noise Design) 를 갖춘 고정밀 프로브 (High-Precision Probe) 어레이가 포함되어 있어 가장 작은 회로의 전기 신호를 정확하게 측정 할 수 있습니다. 이 장치는 효율적인 테스트를 위해 길고 안정적인 플랫폼을 갖춘 컴팩트한 인체 공학적 (ergonomic) 디자인을 갖추고 있습니다. 조절 가능한 스핀들 마운트 (spindle mount) 를 통해 테스트 구성 요소에 빠르게 액세스하고 정확하게 타겟팅하여 보다 빠른 Probe 및 향상된 성능을 제공합니다. 이 플랫폼은 또한 장치 액세스의 빠른 정렬 및 전면 (front of the unit access) 을 가능하게하며, 이는 외부 오염 물질의 오염을 줄이는 데 도움이됩니다. Probe-heads (Probe-head) 는 데이터를 수집하는 동안 열과 소음을 최소화하면서 강력하면서도 조용한 작동을 제공하도록 설계되었습니다. 프로브는 단순화 된 쉴드 신호 프로브 (shield-signal probing) 를위한 독립적 인 접지 리턴 (ground return) 과 정확한 판독 값으로 높은 일관성을 보장하는 내부 난방 기능을 특징으로합니다. 이동식 샘플 처리 암은 빠른 샘플 로드 (loading) 및 언로드 (unloading) 기능을 제공하여 효율적인 테스트 솔루션을 만듭니다. 또한 Gigaprobe DVT30-1MM은 사용자가 선택할 수 있는 4개의 연락처 수준 (Contact Force Level) 및 동적 자동 참조 검사 (Automated Reference Check) 를 통해 자동 접촉을 인식하여 각 연락처가 제대로 테스트되었는지 확인합니다. 또한 피드백 (feedback) 기반 전압 제한 설정과 다중 전압 프로브를 통한 자동화된 무접촉 (contactless) 테스트를 통해 측정 주기 시간을 최대화할 수 있습니다. 전반적으로 DVT SOLUTION Gigaprobe DVT30-1MM은 가장 까다로운 반도체 테스트 요구를 해결하기 위해 설계된 혁신적이고, 효율적이며, 강력한 전문가입니다. 고급 기능, 안정적인 성능, 고속 데이터 획득을 통해, 안정적이고 정확한 Probing 솔루션을 찾는 실험실 및 반도체 테스트 전문가에게 이상적인 선택이 됩니다.
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