판매용 중고 CASCADE MICROTECH / ALESSI Summit 12000 #9228668

CASCADE MICROTECH/ALESSI Summit 12000은 산업 제작 프로세스에 사용하도록 설계된 전문가입니다. 레이저 다이오드 전류 프로브, 광학 검출기 특성, 임피던스 프로브 및 측정, 파라 메트릭 테스트, 전기 특성화 등의 응용 분야에 적합합니다. 이 프로버는 Cascades의 Delta Wafer Probing System 또는 기타 프로브 시스템과 함께 사용할 수 있습니다. 알레시 서밋 12000 (ALESSI Summit 12000) 은 장치 특성을 측정 할 때 높은 수준의 정확성과 반복성을 제공 할 수있는 정밀 전문가입니다. CASCADE MICROTECH Summit 12000 (CASCADE MICROTECH Summit 12000) 은 12 인치 웨이퍼를 갖추고 있으며, 수직 및 수평 방향으로 작동 할 수있는 유연한 최첨단 프로브 플랫폼을 갖추고 있으며 근거리 및 원거리 프로브 기능을 즉시 액세스할 수 있습니다. 프로버 (Prober) 는 또한 우수한 배치 제어를위한 5 축 동작 해상도, 테스트 온도 최적화를위한 고해상도 열 제어 시스템, 단일 작업으로 여러 구조를 측정하는 기능을 갖추고 있습니다. 프로버 (Prober) 는 외부 비품이나 측정이 필요하지 않은 상태에서 작동하는 능력을 포함하여 다른 프로버에 비해 많은 이점을 가지고 있습니다. 이를 통해 구성 설정 비용과 시간을 줄일 수 있습니다. 프로버 (Prober) 는 컴퓨터의 도움으로 자동화할 수 있는 고급 교정 시스템 (Advanced Calibration System) 과 함께 제공되며, 측정 오류를 줄이고 결과의 정확성과 반복성을 높이도록 설계되었습니다. 프로버는 또한 차등 및 열전대 프로브를 가진 장치 특성을 분석하는 데 사용될 수있다. 넓은 주파수 범위를 제공하며 커패시턴스 (capacitance), 저항 (resistance) 및 인덕턴스 (inductance) 를 측정 할 수 있습니다. 또한 최대 12kHz의 주파수 해상도로 최대 1.5 옴 (ohm) 의 대형 및 소형 타임 스케일 모두에서 전류와 전압을 측정하도록 설계되었습니다. Summit 12000은 산업 제작 공정을 위한 안정적이고 정확한 올인원 측정 솔루션입니다. 이를 통해 뛰어난 정확도와 반복성 (repeatability) 으로 장치 특성을 측정하고, 설치 비용과 시간을 절감하며, 여러 가지 구조를 단일 작업으로 측정할 수 있습니다. 광학 검출기 특성, 전기 특성, 임피던스 검사 및 패라메트릭 테스트에 이상적입니다.