판매용 중고 CASCADE MICROTECH / ALESSI Summit 12000 #9190403
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ID: 9190403
Semi-automatic wafer prober, 8"
With ambient & hot thermal system
Micro-chamber
A-Zoom microscope
Temptronics hot chuck & controller
Vibration isolation table
Probe card holder: 4.5".
CASCADE MICROTECH/ALESSI Summit 12000 Advanced Prober는 자동화된 웨이퍼 프로브 솔루션으로, 매우 정교하며 다양한 기능을 제공합니다. 알레시 서밋 12000 (ALESSI Summit 12000) 은 다양한 고급 기술로, 프로브 정확도를 높이고 전체 프로브 시간을 줄여줍니다. 이 Prober는 스캐닝 정밀 스테퍼 모터 및 정렬, Sub-micron 해상도의 정확성 향상, 최신 wafer-level 테스트 알고리즘을 활용하여 고객의 만족도 및 제품의 신뢰성을 극대화합니다. 이 Prober는 높은 처리량을 통해 정확하고, 높은 해상도를 제공하는 다양한 혁신적인 기술을 제공합니다. 여기에는 DQS Probing Algorithms 사용자 정의 가능한 다중 영역 프로브 레이아웃, 활성 리트랙트 프로토콜, Omni-Source Measurement Adaptive Optics 및 Closed Loop Move/Force Control이 포함됩니다. 또한 CASCADE MICROTECH Summit 12000은 자동 이중 레벨 교정 및 정렬과 함께 고급 6 축 모터 컨트롤 및 지능형 비전 프로브를 제공합니다. Summit 12000 Prober는 또한 광범위한 웨이퍼 직경 및 프로브 레이아웃 (Probe Layout) 을 수용 할 수있는 기능을 제공합니다. 이는 복잡한 웨이퍼 레벨 테스트에 적합합니다. 또한, 이 프로버에는 다중 사용 진공 시스템 (Multiple Use Vacuum System) 이 장착되어 재검사 시간이 단축됩니다. 진공계는 열 전달을 최소화하고 기계적 영향을 최소화하여 낭비를 최소화하는 데 도움이됩니다. 또한 CASCADE MICROTECH/ALESSI Summit 12000 Prober에는 스마트 게이트 기능이 장착되어 있으며, 이를 통해 사용자는 각 프로브의 정확한 위치를 모니터링하고 사이트당 정렬을 사용자 정의하여 정확성과 정확도를 높일 수 있습니다. 또한, 이 프로버에는 자동 온도 보상이 장착되어 있어 온도 오류를 제거하고 웨이퍼 검사 (Wafer Inspection) 정확도를 높일 수 있습니다. ALESSI Summit 12000 전문가는 고급적이고 사용자 친화적이며 신뢰할 수 있습니다. 이 기능은 Probe (조사 시간 단축) 와 함께 향상된 성능을 제공하여 매우 정확한 Probing 결과를 확보하고 고객 만족도를 높입니다. 전반적으로 CASCADE MICROTECH Summit 12000 Advanced Prober는 신뢰성 및 고정밀 웨이퍼 프로빙 작업에 이상적인 선택입니다.
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