판매용 중고 CASCADE MICROTECH / ALESSI Summit 11000 #9255340

ID: 9255340
Manual wafer prober With RF microwave wafer chuck, 6" Wafer chuck travel: X-Y Travel: 203 mm x 203 mm with 0.1 um resolution Z Travel: 5 mm with 1 um resolution Large area bridge mount: X Axis travel, 6" (±3" from center of travel) Y Axis travel, 8" (±4" from center of travel) Linear manual Z-lift, 3" Microscope: (2) A-Zoom microscopes Bright field illumination Eyepiece viewing with MITUTOYO WF 10X/24 eyepiece lenses Single objective slider with MITUTOYO MPLAN APO 10x objective lens Internal CCD camera Includes: Vibration isolation workstations Probe positioners (RF and DC) Triax / BNC connector panels Vacuum connector panels Coaxial and tri-axial cables Microscope optics Thermal fluid Probe card holder insert assembly.
CASCADE MICROTECH/ALESSI Summit 11000 Prober는 정확성과 속도로 반도체 장치를 분석하는 데 사용되는 라인 IC 테스트 및 특성 플랫폼의 상단입니다. 이 장치는 업계 최고의 두 회사 인 ALESSI와 CASCADE MICROTECH에 의해 제조되었으며, 우수한 성능, 사용 편이성, 완벽한 기능 세트 (feature set) 로 인해 시장에서 가장 인기있는 테스트 및 특성 시스템 중 하나가되었습니다. ALESSI Summit 11000은 프로그래밍 가능한 플랫폼을 갖추고 있으며, 이를 통해 사용자가 빠르고 정확하게 장치를 테스트할 수 있습니다. "프로그램 '할 수 있는" 플랫폼' 은 여러 가지 연산 "파라미터 '를 갖추고 있는데, 그것 은 매우 다양 한 기기 종류 와 크기 를 수용 할 수 있도록 조정 할 수 있다. 또한 CASCADE MICROTECH Summit 11000은 광범위한 데이터 획득, 신호 조건, 분석 및 장치 품질 제어 기능을 지원합니다. Summit 11000의 핵심에는 10äm 해상도, 50GHz 주파수 프로버가 있습니다. 이 검사는 온웨퍼 임피던스 (on-wafer impedance), 커패시턴스 (capacitance) 및 소형 신호 응답 시간 (small-signal response time) 과 같은 장치 특성에 대한 매우 정확한 측정을 만들 수 있습니다. 또한 DC, AC, Dynamic, Shock 테스트를 비롯한 다양한 디바이스 특성을 지원합니다. 이 장치는 또한 데이터를 쉽게 조작하고 분석 할 수있는 다양한 소프트웨어 (software) 를 갖추고 있습니다. 소프트웨어에 포함된 많은 기능을 사용자 정의할 수 있으며, 사용자가 심층적인 (in-depred) 디바이스 분석 보고서를 빠르고 정확하게 작성할 수 있습니다. CASCADE MICROTECH/ALESSI (CASCADE MICROTECH/ALESSI) 와 ALESSI (ALESSI) 는 또한 시스템을 모듈식 방식으로 설계하여 사용자의 모든 요구를 충족하도록 시스템을 쉽게 업데이트, 사용자 정의할 수 있도록 했습니다. 전반적으로 CASCADE MICROTECH/ALESSI Summit 11000 Prober는 매우 정확하고, 안정적이며, 사용하기 쉬운 테스트 및 특성 도구를 찾는 사람들에게 이상적인 솔루션입니다. 최첨단 디지털 기술과 더불어 다양한 기능을 통해 모든 심각한 IC 테스트 및 특성 (characterization) 기능을 반드시 갖추어야 합니다. 알레시 서밋 (ALESSI Summit) 11000 (11000) 은 반도체 장치의 품질과 신뢰성을 보장하는 데 귀중한 도구다.
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