판매용 중고 CASCADE MICROTECH / ALESSI Summit 10000 #9040784

CASCADE MICROTECH / ALESSI Summit 10000
ID: 9040784
Semiautomatic Probe Station, 6" Joystick control B&L Microzoom, (2) objectives, 1-2x zoom Zoom: 80x to 160x or 250x to 500x.
CASCADE MICROTECH/ALESSI Summit 10000 Prober는 웨이퍼 테스트 응용 프로그램을위한 고성능, 저렴한 웨이퍼 프로버 솔루션입니다. 이 프로버 (prober) 는 광범위한 기판의 신뢰할 수 있고 정확한 프로브를 가능하게합니다. 자동 웨이퍼 정렬 (automated wafer alignment) 과 3축 동작 기능을 통합하여 매우 높은 정확도로 장치 형상을 정확하게 조사할 수 있습니다. ALESSI Summit 10000 Prober는 하이브리드 오픈 아키텍처를 사용하여 운영자에게 추가 비용 절감, 높은 신뢰성 및 짧은 학습 곡선을 제공합니다. 컴퓨터 제어 패턴 인식 (computer-controlled pattern recognition) 의 구현은 높은 정확성, 반복 가능한 성능 및 저렴한 운영을 보장합니다. 이 장비는 또한 정교한 수준의 디지털 자동화 및 유연한 중앙, 포인트 투 포인트 (point-to-point) 및 병렬 프로버 작동을 자랑합니다. CASCADE MICROTECH Summit 10000 Prober의 고급 기능에는 통합 웨이퍼 매핑 시스템 (Wafer Mapping System) 이 포함되어 있어 중요한 Prober 정보를 사용하기 쉬운 그래픽 형식으로 캡처합니다. 이 정보 (예: 테스트된 각 장치의 Probe 수, 신호 품질) 는 특히 장치의 품질 관리 및 문제 해결에 도움이 될 수 있습니다. 또한 압력, 웨이퍼 정렬, XY 이동, Z 흐름 레벨링 및 로컬 Z 높이 오프셋을 포함한 Prober 설정에 대한 실시간 피드백을 제공합니다. Summit 10000 Prober의 고급 기계 아키텍처는 Probe 프로세스에서 높은 수준의 안정성과 정확성을 보장합니다. 유연한 소프트웨어 설계를 통해 최적화 된 프로브 전략 (Optimized Probing Strategy) 개발에 제한된 프로그래밍 지식을 사용할 수 있습니다. CASCADE MICROTECH/ALESSI Summit 10000 Prober의 통합 비전 도구는 fiducials를 스캔하고 해석하여 임의의 간격으로 자동 웨이퍼 배치를 허용합니다. 이것은 더 큰 dies 및 wafer 맵에 대한 장치 정렬의 정확성을 지원합니다. 옵션 장비로 다이 모서리 및 다이 방향을 자동으로 식별할 수도 있습니다. 일반적으로 ALESSI Summit 10000 Prober는 웨이퍼 테스트에 대한 높은 정확성과 처리량을 제공하는 이상적인 Prober 솔루션입니다. 고성능, 저렴한 비용, 정교한 모션 컨트롤 (motion control) 기능을 통해 웨이퍼 테스트가 필요한 모든 애플리케이션에 대해 바람직하고 비용 효율적인 Prober를 선택할 수 있습니다.
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