판매용 중고 CASCADE MICROTECH / ALESSI S 300 #293829089

CASCADE MICROTERECHCASCADE MICROTECH/ALESSI S 300은 반도체 웨이퍼 및 집적 회로 장치를 정확하게 측정하도록 설계된 전문가입니다. 고속 스캔 시스템을 사용하면 전문가와 PC 간에 신속하게 데이터를 전송할 수 있습니다. 이 시스템은 안정된 운영 및 긴 서비스 수명을 제공하는 산업용 (industrial-grade) 구성 요소로 설계된 장기 유지 보수 (maintenance-free) ScanTest 장치를 사용하여 제작되었습니다. ALESSI S300 프로버 (Prober) 는 한 번에 여러 웨이퍼를 조사할 수있는 기능을 제공하여 각 테스트마다 웨이퍼를 제자리에 옮길 필요가 없습니다. 스캐닝 헤드는 견고한 스테인레스 스틸 (Stainless Steel) 프레임에 장착되어 있어 고속, 최대 정확도, 반복 가능한 성능을 위해 설계되었습니다. 스캐너 헤드는 3 개의 축에서 조정이 가능하여 웨이퍼 (wafer) 와 샘플을 기준으로 측정 프로브를 정확하게 배치 할 수 있습니다. CASCADE MICROTECH S-300은 고유 한 MultiDUT 어댑터를 사용하여 여러 웨이퍼에서 동시에 최대 7 개의 다이를 테스트 할 수 있습니다. MultiDUT 어댑터 (MultiDUT Adapter) 는 다양한 다이 크기에 대한 조절 가능한 고정장치 옵션과 함께 더 큰 다이에 대한 조정 가능한 지원을 제공합니다. MultiDUT 어댑터는 Probe DUT Designer를 포함한 Cascade의 자동 설정 도구와도 호환됩니다. S300 은 하나의 웨이퍼 (wafer) 에서 대량의 측정 데이터를 캡처하고, 여러 테스트에서 여러 wafer (wafer) 로 데이터 수집을 확장하는 기능을 제공하는 통합 소프트웨어를 갖추고 있습니다. 소프트웨어에는 다양한 분석 툴뿐만 아니라 종합적인 일련의 테스트를 형성하기위한 Prober Manager 및 Measurement Factory 프로그램도 포함됩니다. 별도의 Data Analysis 유틸리티를 사용하여 테스트하는 동안 수집된 데이터를 빠르고 쉽게 보고, 정리하고, 조작할 수 있습니다. CASCADE MICROTECH/ALESSI S-300은 최적의 정확성과 반복 성을 위해 수동 보정을 제공합니다. 이 소프트웨어는 선택 사항인 백사이드 보정 (backside calibration) 과 같은 교정 프로세스에 대한 단계별 지침을 제공하는 사용하기 쉬운 마법사를 갖추고 있습니다. 이 시스템은 신호 (signal) 및 전력 무결성 (Power Integrity) 측정뿐만 아니라 자동 (Automated) 절차도 제공하므로 다중 다이 (Die) 의 전기 특성을 한 번에 식별하고 측정 할 수 있습니다. 결론적으로, ALESSI S 300은 Wafer 및 Integrated Circuit 장치의 자동 테스트를 위해 비용 효율적이고 신뢰할 수있는 Prober 솔루션입니다. 고급 스캐닝 기능은 강력한 MultiDUT 어댑터 (MultiDUT Adapter) 및 소프트웨어와 함께, 효율적인 데이터 분석과 정확한 테스트를 위한 귀중한 도구를 제공합니다.